ELSZneo

界達電位粒徑分析儀ELSZneo

◎稀溶液到濃溶液,奈米粒徑到固體表面電位評價
◎搭載全新的窄帶半導體雷射,提高感度
◎全新改良的固態表面電位量測,大大提高操作便利性
◎多角度粒徑量測提高粒徑解析度
◎另外新增微流變學黏彈性、粒子濃度、凝膠網絡等全新功能

量測項目

  • Zeta電位
  • 平均粒徑・粒徑分佈
  • 固體表面電位
  • 分子量
  • 粒子濃度
  • 凝膠網絡結構
  • 黏彈性

全新進化

ELSZneo

大塚電子集結半世紀以來散射光研究經驗,全新進化升級。最穩定、最高精度、對應最多樣的樣品的界達電位粒徑分析儀。

全新升級固體表面電位樣品容器

  • 全新升級固體表面電位樣品容器

    ●Cell組裝更加簡單輕鬆 
      不使用螺絲等工具可輕易組合
    ●提供自己coating選擇 
      使用者可自行購入coating液進行下層玻璃coating
    ●對應微小化樣品尺寸 
      對應10 x 10 mm大小樣品

  • 固體表面電位量測

    生理食鹽水下的PMMA板

    固體表面電位 -19.3mV

    適用於人體環境buffer環境下的固體表面電位量測

     
  •  

固體表面電位樣品容器組裝影片

改良後的固態表面電位專用容器實現無工具徒手組裝,僅需20秒。 
可量測晶圓玻璃高分子薄膜毛髮纖維隱形眼鏡生物材料...等等固體板狀樣品的表面電位。

不需要使用特定化學電解液,可任意置換液體相,例如研磨液、染劑、清潔劑等等研究固體-液體表面電性的交互作用。

其他新功能

  • 多角度粒徑量測

    透過前方、90度、背向散射3個角度進行粒徑量測及解析,可提供更高的粒徑分佈分辨率。
    以單一角度量測下無法分辨的混合粒徑,能透過多角度量測解析,分辨出數個峰值。
多角度粒徑量測
 
  • 粒子濃度量測

    以絕對散射強度除以單顆粒子的散射光強度,求得濃度。
    粒子個數濃度(個/mL)=絕對散射光強度/單顆粒子散射光強度


濃度解析

  • 凝膠網絡構造解析

    透過量測凝膠樣品多個點位的散射強度和擴散係數,可分析凝膠的結構及不均勻性。
凝膠構造解析
  • 微流變黏彈性量測

    使用已知粒徑的粒子添加到樣品中,觀測自相關函數的變化求得黏彈性。黏彈性解析
 

量測原理

粒徑量測原理:動態光散射(光子相關法)

動態光散射(DLS)原理概要說明

溶液中的粒子會依據粒徑大小產生不同程度的布朗運動。小粒子的布朗運動較快,大粒子則反之。
當光照射在這些粒子上會產生散射光,小粒子的散射光強會劇烈變動,大粒子則會緩慢變化。
利用這些變化波動,可量測溶液中粒子的大小。
布朗運動

動態光散射光子相關計種類與ISO方法

上面提到動態光散射是利用光強度的變化量來進行量測,具體的作法如下所示。
布朗運動
機台會將因為布朗運動產生的散射強度變化,轉換為自相關函數,之後再轉換成粒徑分佈。
此方法符合ISO 22412:2017(早期為ISO13321:1996 以及 ISO 22412:2008,後來兩種ISO方法合併為ISO22412:2017)。
光子相關計還分為線性以及Log兩種,早期機台以線性相關為主,後續機台皆陸續轉換成Log相關。採用Log相關可使自相關函數的數據處理範圍更寬,可以較好量測到大粒子(微米以上的粒徑)。
 

動態光散射與其他粒徑分析方法比較

DLS方法主要應用粒徑範圍為奈米等級~跨到一些微米等級的粒徑分析,量測簡便快速。
更多與其他方法比較可以參考本站文章。
📖粒徑分析基本觀念,現行6種粒徑量測原理及方法完整說明
 

動態光散射的粒徑分析結果

使用動態光散射後,會得到許多描述該結果的平均粒徑、粒徑分佈、D50...等等結果,每一種結果都有自己代表的意思。
如何看懂一份動態光散射量測結果報告,詳細看法可參考本站文章。
📖粒徑分佈圖怎麼看?完整解讀定義與曲線,明白技術運用在哪裡!

 

界達電位量測原理:電氣泳動光散射(Laser Doppler)

電氣泳動光散射法原理概要

對溶液中的粒子施加電場,  帶有電荷的粒子會產生電泳動,  藉由觀測此電泳動可以求得界達電位與電泳動遷移率。
此方法以粒子電泳時,產生的都卜勒效應使入射光的頻率產生改變,藉由分析頻差可求得粒子的泳動狀況,進一步得到界達電位結果。

  Zeta

界達電位量測中會產生的電氣滲透流

理想狀態下,我們可以直接量測粒子運動軌跡,直接求得zeta potential,實際上卻有一些技術需要克服。
在水或是溶劑中,除了我們要量測的粒子本身外,以水為例還有H+及OH-等離子存在。
因為管壁是帶負電材質的關係,H+等正離子會往管壁聚集。這些離子在通入電場後會產生自己的運動軌跡
實測Cell內數點的電氣泳動,以森・岡本公式實際解析電滲流,求得不受電滲流的靜止面的真正移動度。
因此樣品的吸附或沉澱等現象,造成非對稱電氣泳動結果,也可以得到高精度、高再現性的結果。
更多詳細說明請參考本站文章。
📖界達電位量測原理介紹,固態樣品表面電位(surface zeta potential)量測方法與實踐
電滲流

固體表面電位量測

固體表面電位概要-電滲流的延伸

固體表面電位是將平板樣本緊密接觸於盒型石英Cell上方而形成一體的構造。  
藉由實測在Cell深度方向上每個粒子泳動遷移率,  所得到的電滲流Profile可分析固體介面電滲流速度,進而求取平板樣本表面界達電位。

平板表面電位

電滲流法與流動電位法的不同

流動電位法也是一種常見的量測固體表面電性的方法,以通入特定電解液後加壓產生液-固相的電壓差,量測電壓差後進行換算。
電滲流法量測固體樣品的表面電位與液態樣品間的交互作用,與需要通入特定電解液的流動電位法不同,電滲流法並不限定液相樣品可以更好的發揮交互作用的研究性。
因為不限定液體種類,廣泛利用在晶圓、玻璃、高分子、纖維、皮膚、塗層、過濾膜..等等可使用電性產生作用的固態物體表面。
例如:研磨液/清潔劑⇔晶圓、染劑⇔纖維、塗布劑⇔玻璃、保護層⇔容器...等等
更多詳細資訊可參考上述界達電位原理的同一篇文章。
📖界達電位量測原理介紹,固態樣品表面電位(surface zeta potential)量測方法與實踐→

規格樣式

  粒徑 ( Particle size ) 界達電位 (Zeta potential )
量測原理 動態光散射法(光子計數法) 電氣泳動光散射法(Laser Doppler)
光源 高功率窄帶半導體雷射
感光元件 高感度APD
量測項目 粒徑、Zeta電位、分子量、多角度粒徑量測、粒子濃度、微流變黏彈性、凝膠網絡
樣品容器/容量 矩形容器 : 0.9 mL~
微量容器 : 20 μL~
超微量容器 : 3 μL~
標準容器 : 0.7 mL~
量測範圍 粒徑顯示範圍 : 0.1 nm~1 mm
信賴保證範圍 : 0.6 nm~10 μm
no limit
溫控系統 0~90℃(設定 刻度 : 0.1℃、具梯度功能 )
軟體對應 FDA 21CFR Part11*( 選配 )
多國語言介面:繁體中文、日文、英文、韓文、簡體中文
ISO 粒徑 : ISO 22412:2017     Zeta電位 : ISO 13099-2:2012
電源規格 100V ± 10% 250VA,50 / 60 Hz
尺寸 330(W) × 565(D) × 245(H)mm
重量 約 22 kg

標準配件

多角度粒徑量測樣品容器

可量測3個角度粒徑結果的專用樣品容器

Zeta電位標準樣品容器

可量測透光樣品的Zeta電位泛用Cell。特殊小截面流道,大面積白金圓鼎電極,可直接量測1000mM NaCl以上的高鹽濃度樣品。獨家的長直型流道配上日本獨有高精度電滲流量測,讓您不必擔心電滲流影響,也可量測沉降性樣品。

應用範圍

半導體領域

  • 矽晶圓表面所附著之異物解析研磨劑、
  • 添加劑與晶圓表面之相互作用研究
  • CMP Slurry
半導體是台灣最蓬勃發展的產業之一,ELSZ在半導體產業發展過程也佔有一席之地。CMP研磨液量測,以粒徑及界達電位控制產品品質。獨家技術的固體表面電位也可以量測晶圓表面電位,藉由置換(研磨液、清潔劑)等不同配方之溶液,更可以研究其與晶圓表面之交互作用研究。

顏料、塗料、油墨領域

  • 無機溶膠表面改質、分散、凝聚控制
  • 顏料(黑碳、有機顏料)分散、凝聚控制
  • 彩色濾光片
顏料等需要維持穩定的配方,維持長時間不團聚以及產品的特性(顯色、耐用度等等)。ELSZ系列搭配自動載台及業界最高輸出的半導體雷射,可以不進行稀釋直接量測,避免產品因稀釋後產生的誤差。在我們的銷售經驗中,多有使用他牌產品稀釋後進行量測,因而看不出差異進而無法分辨產品品質的情況產生。
另外,獨家的固體表面電位量測也是觀察塗佈時一個重要參數。

醫藥、生物材料領域

  • 蛋白質機能性
  • 微脂體、液胞分散與凝聚控制
  • 奈米膠囊、網狀高分子聚合物、DDS、生物奈米粒子
 
正確的粒徑及界達電位的控管,有助於確保藥品的安全性及保存期限等等。ELSZ系列的大面積電極設計可有效量測人體緩衝環境下高塩濃度的界達電位,而不會有損傷硬體甚至無法確認數據的正確性的情況產生。因為高塩濃度時,環境離子強度也會不同,若無法量測當下的界達電位值是十分不安全的。

食品工業領域

  • 食品乳化劑、香料
  • 乳製飲品

食品安全一直是我們最重視的需求之一,不同的粒徑可能會影響保存期限、保存方法,甚至是口感等等。乳製飲品等等不乏有不透光的樣品,黏度也是量測上需要注意的點。
 

新機能材料領域

  • 奈米材料、奈米纖維、奈米碳材
  • 奈米金粒子、量子點
 
奈米材料百百種,用途特色等等更是包羅萬象。但不管是什麼材料,對奈米材料來說最重要的是穩定度。
不同的粒徑分佈、分散性等等都會直接影響到產品最後的各種性質,不好的分散可能無法得到最初設計這種材料的期待效果。
 

高分子領域

  • 塗料或黏著劑乳液、乳劑分散或凝聚狀態
  • 醫藥、工業用乳膠表面改質
  • 電解質高分子機能性研究(Polystyrene sulfonate、Poly carboxylic acids…等)

材料的表面改質是一直以來的研究課題,藉由改變產品的分散凝集狀態可以控制各種性質。ELSZ擁有各種配件可以符合當下的使用條件,得到最正確的數值。
 

能源環境工程領域

  • 電池能源材料、光觸媒
  • 過濾膜、水質處理
 
為了人類發展創更美好的世界一直是大塚集團的最大宗旨,我們的產品在此當然也不會缺席。電池材料的粒徑均一度大大影響後續的物理性質,各種狀態下包括過濾膜等表面電位量測也是我們的強項。

選配配件

固體表面電位樣品容器

量測平板狀樣品(玻璃、晶圓、薄膜、纖維...etc)專用固態表面電位量測Cell。
大塚電子獨家技術,使用電滲流多點量測固體表面電位。
除了標準觀測粒子以外,更可使用塗布液、研磨液、染料等等其他溶液,觀察固體跟液體的電荷交互關係。
比起ELSZ-2000系列,提高了組裝的便利性,實現無工具組裝。

微量拋棄式Zeta電位樣品容器

微量(130μL〜)起可量測Zeta potential的專用Cell。
實現微量樣品下的高精度電滲流量測。

高濃度Zeta電位樣品容器

大塚電子專利FST法,可量測不透光溶液的Zeta potential。
 

低導電率溶劑Zeta電位樣品容器

非極性溶劑用Zeta potential樣品容器,可量測不易導電的介電常數在10以下的非極性樣品。

粒徑超微量樣品容器

最小使用體積(3μL~)粒徑量測專用樣品容器。
 

pH滴定儀 ELSZ-PT

可自動化量測pH與添加劑濃度的粒徑、Zeta電位的變化。
可連結粒徑量測樣品容器、Zeta電位標準樣品容器、固體表面電位樣品容器。
pH範圍 pH 1~13
測定模式 滴定模式、添加劑模式、循環模式
循環流速 約10~40 mL / min
滴定溶液 3種類(酸/鹼/添加劑)
獨立注射控制
滴定解析度 0.1μL
樣品量 約25mL(最多50 mL)
pH電極 玻璃電極
尺寸重量 250 (W) X 310 (D) X 290 (H) mm 約 7.5 kg
電源 AC100V 50/60Hz 55VA
technical article

技術文章

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏