膜厚是多個產業都需要監控的物性值，以光學式可以達到快速、非破壞、高精度、聚焦小面積等特性，為您介紹光干涉法的原理以及適用範圍。

Zeta Potential(又稱界達電位or介面電位)是在描述物質在溶液環境中的帶電狀態，又是如何影響分散性。量測高鹽度狀態下Zeta電位的方法。

動態光散射(DLS)是一種可以簡便量測奈米粒徑的技術，主要是利用小粒子的布朗運動比較快，大粒子的布朗運動比較和緩，能在一分鐘以內得到粒徑大小。除了傳統的稀溶液以外，我們也可以量測完全不透光的原液(例如:油墨、碳材)等等，一起來看看什麼是背向散射吧。

利用光學的技術，我們的使命是提供具有尖端技術的解決方案。產品包括光學膜厚量測、粒徑界達電位量測、高感度光譜儀等尖端技術。

MINUK可直接量測nm等級的透明異物・缺陷・表面輪廓等。1次可直接取得深度方向的所有情報，以非破壊・非接觸式量測的裝置。
並且不需要對焦，可以高速量測自由決定樣品任意位置。

非接觸式膜厚量測，最薄從1nm~無須樣品前處理放置即可量測

在CMP過程中，超高速、高精度、非接觸式量測晶圓或樹酯層等厚度。

兼具品質、顏值、CP值的多檢體粒徑分析專用機
一鍵5連量測+繁中介面好方便

稀溶液到濃溶液，奈米粒徑到固體表面電位評價
搭載全新的窄帶半導體雷射，提高感度
多角度粒徑量測提高粒徑解析度
另外新增微流變學黏彈性、粒子濃度、凝膠網絡等全新功能
全新改良的固態表面電位量測，大大提高操作便利性
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線上全膜全幅寬檢查裝置。