線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

點我報名->>>

 

【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

點我報名->>>


 
  • 【10分鐘了解動態光散射】奈米粒徑的量測方法DLS

    動態光散射(DLS)是一種可以簡便量測奈米粒徑的技術,主要是利用小粒子的布朗運動比較快,大粒子的布朗運動比較和緩,能在一分鐘以內得到粒徑大小。除了傳統的稀溶液以外,我們也可以量測完全不透光的原液(例如:油墨、碳材)等等,一起來看看什麼是背向散射吧。

  • 大塚科技股份有限公司介紹-光學量測的佼佼者

    利用光學的技術,我們的使命是提供具有尖端技術的解決方案。產品包括光學膜厚量測、粒徑界達電位量測、高感度光譜儀等尖端技術。

  • 界達電位粒徑分析儀ELSZ-neo
    04Mar.2022

    稀溶液到濃溶液,奈米粒徑到固體表面電位評價
    搭載全新的窄帶半導體雷射,提高感度
    多角度粒徑量測提高粒徑解析度
    另外新增微流變學黏彈性、粒子濃度、凝膠網絡等全新功能
    全新改良的固態表面電位量測,大大提高操作便利性
    前往洽詢車

  • LineScan膜厚計
    04Mar.2022
    產品介紹影片

    LineScan膜厚計

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏