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Zeta電位
粒徑．粒徑分佈
固體表面電位
分子量
球晶徑．相關長
反射分光膜厚儀
晶圓/基板Load-Port設備
橢圓偏光儀
分光光譜儀
Inline-線上檢測
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相位差
機能性薄膜・材料評價
LED發光相關量測
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Cell Gap・預傾角・扭轉角檢測
液晶顯示器面板&模組檢測評價
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半導體 Semiconductor
LED Light Emitting Diode
化工材料 Materials
醫藥食品 Pharmaceuticals・Foods
高分子薄膜 Film Process
可對應量子點的彩色濾光片在RGB發光狀態下之色度評價裝置
大塚電子集結半世紀以來散射光研究經驗，全新進化升級! 最穩定、最高精度、對應最多樣的樣品的界達電位粒徑分析儀。
ELSZneo系列全新進化，固體表面電位樣品容器改良。 改良後的樣品容器組裝需要多久?
兼具廣泛用途與高精度 所有光學機能膜材皆可對應相位差量測系統
最多連續50檢體，小容量、無汙染、高速品管粒徑量測。
分光干涉式，線上全面膜厚檢查。
可裝在於連接埠上，視客戶需求配合各種量測。
使用小角光散射技術，動態量測解析高分子結構變化。
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