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【關鍵突破:2024先進材料精準粒子分析研討會】


202405粒徑研討會1
 
本次研討會主題為「2024先進材料精準粒子分析研討會」,超過半世紀粒徑分析開發經驗的大塚電子株式會社的日本量測技術負責人分享最新的應用與量測上的knowhow,各種意想不到的界達電位、粒徑大小、表面電位等在各領域的關鍵突破。 此外,工研院背景的新銳公司邑流微測分享包括半導體及生醫製藥等熱門領域,聚焦在潔淨、智慧製造等關鍵字,引領ESG最新潮流。。
【新竹場】2024/05/21 13:00~
【台中場】2024/05/22 13:00~
【高雄場】2024/05/23 13:00~
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付費委測

 

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付費委託量測服務項目

大塚科技致力於了解並滿足客戶需求。
由本公司提供熟練的分析量測經驗高精度的量測裝置高信賴度的數據結果

我們長年專責量測樣品的專家,代替您使用高性能機台,生成專業的數據報告。
您無須負擔機台耗損、人員培訓、時間等成本,得到高信賴度的量測結果,全面支援您的研究進程。

通過這項服務,客戶僅需支付所需要的量測費用,從而確保最大的效率以及成本效益。
 


付費委託量測流程

📲電話或留言詢問📧
👨‍💼本公司人員聯繫介紹相關服務,報價📋
📦樣品寄送/收取🚚
🔬專門人員量測、數據解析🥼
📃提供分析結果報告書📊
 

付費委託量測對應機種一覽

  • 顯微分光膜厚量測儀OPTM

    高精度、高再現性量測,絕對反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光係數)  。小光斑3um量測面積。
     
  • 光譜干涉WAFER測厚儀SF-3

    即時檢測WAFER基板於研磨製程中的膜厚、能因應不同產業和各種情況膜厚分光器。
     
  • 多通道分光光譜儀MCPD

    應對從紫外到紅外線領域的多功能多通道分光光譜檢測器。高動態範圍(HDR)光譜儀可量測透明、低對比、高反射率樣品。
  • 動態畫面反應時間檢測儀MPRT-2000

    動態畫面特性量測設備(MPRT-2000)為目前業界主流的量測設備,內建自動追蹤偵測CCD,藉由模擬人類眼球移動方式進行各種顯示器之高精度量測可更貼近於人類的真實視覺。

付費委託量測收費標準與事前準備

量測機種 量測項目 所需參數以及樣品要求 收費標準 備註
顯微分光膜厚量測儀OPTM 膜厚、nk值 預估厚度&膜層結構種類
待測層需透光/半透光
待測區尺寸 : 10μm以上
樣品尺寸 : 2~200mm
初次receipe設定 : 內洽/每樣品
面內多點重複量測 : 800 NTD/每點
最低承作金額
30,000 NTD 
(視實際狀況,可分幾批樣品量測,但合計需超過最低承作金額)
光譜干涉WAFER測厚儀SF-3 厚度 晶圓/樹脂/玻璃...
樣品結構材質或折射率n值
初次receipe設定 : 3,000 NTD/每樣品
面內多點重複量測 : 800 NTD/每點
多通道分光光譜儀MCPD 穿透度 相對空氣or參考材質 初次receipe設定 : 3,000 NTD/每樣品
面內多點重複量測 : 800 NTD/每點
多通道分光光譜儀MCPD 反射率 相對參考材質
動態畫面反應時間檢測儀MPRT-2000 動態畫面
反應時間
a. 螢幕尺寸 →ex:27”
b. 螢幕解析度→ex:1920 x 1080
c. 更新頻率→ ex:165 Hz
d.Pixel Pitch(mm) → ex: 0.31125 * 0.31125mm
e. 螢幕輸出→ ex: HDMI/DVI/VGA
內洽 如有特殊顯示規格,
點片電腦需自行準備。
付費委託量測服務所得量測結果僅供客戶做數據分析使用,若由此數據結果衍生出任何爭議與直接或間接損失,本公司概不負責。

聯絡方式

台北辦公室📞02-25153066
台南辦公室📞  06-2151970

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