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機台型號洽詢車(可複選)

  • 物性分析
    • 界達電位粒徑分析儀ELSZneo
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    • 界達電位粒徑分析儀ELSZ-2000ZS
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    • 多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA
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    • 多檢體奈米粒徑量測自動進樣系統nanoSAQLA+AS50
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    • 靜態光散射光度計SLS-6500HL
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    • 高分子相結構分析系統PP-1000
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  • 膜厚儀
    • 顯微分光膜厚量測儀OPTM series
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    • 橢圓偏光量測儀FE-5000S
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    • 分光干涉式WAFER膜厚計SF-3
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    • 自動測繪系統TM series
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    • 晶圓厚度&線上膜厚量測設備TE series
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    • 膜厚量測儀FE-300
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    • 崁入式膜厚量測儀
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    • 膜厚光譜分析儀系統MCPD series
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    • LineScan桌上膜厚檢測系統
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  • 分光光譜儀
    • 多通道分光光譜儀MCPD-9800
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    • 多通道分光光譜儀MCPD-6800
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    • 晶圓厚度&線上膜厚量測設備TE series
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    • 崁入式膜厚量測儀
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    • 膜厚光譜分析儀系統MCPD series
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    • 相位差檢測設備RETS-100nx
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    • 低相位差高速檢測設備RE-200
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    • LineScan桌上膜厚檢測系統
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    • 量子效率量測系統QE-2100
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    • 微小化反射率量測反射率量測設備LED導線架&相關材料
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  • 光電材料評價
    • 多通道分光光譜儀MCPD-9800
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    • 顯微分光膜厚量測儀OPTM series
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    • 晶圓厚度&線上膜厚量測設備TE series
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    • 相位差檢測設備RETS-100nx
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    • 低相位差高速檢測設備RE-200
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    • LineScan桌上膜厚檢測系統
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    • LineScan線上膜厚檢測系統
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    • 液晶層間隙檢測設備RETS series
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    • 彩色濾光片檢測設備LCF series
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    • Inline線上即時檢測(彩色濾光片製程)
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    • 動態畫面反應時間檢測儀MPRT-2000
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    • 顯示器面板&模組檢測設備LCD series
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    • 量子效率量測系統QE-2100
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    • LED 高速光譜分析儀LE-5400
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    • 配光量測系統GP series
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    • 光通量量測系統(積分球/積分半球)FM/HM series
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    • micro LED光度量測系統 AL-1000
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諮詢項目(可複選)

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