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洽詢車
General inquires
產品洽詢表單
機台型號洽詢車(可複選)
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物性分析
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界達電位粒徑分析儀ELSZneo加入洽詢 取消洽詢
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界達電位粒徑分析儀ELSZ-2000ZS加入洽詢 取消洽詢
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多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA加入洽詢 取消洽詢
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多檢體奈米粒徑量測自動進樣系統nanoSAQLA+AS50加入洽詢 取消洽詢
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靜態光散射光度計SLS-6500HL加入洽詢 取消洽詢
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高分子相結構分析系統PP-1000加入洽詢 取消洽詢
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膜厚儀
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顯微分光膜厚量測儀OPTM series加入洽詢 取消洽詢
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橢圓偏光量測儀FE-5000S加入洽詢 取消洽詢
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分光干涉式WAFER膜厚計SF-3加入洽詢 取消洽詢
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自動測繪系統TM series加入洽詢 取消洽詢
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晶圓厚度&線上膜厚量測設備TE series加入洽詢 取消洽詢
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膜厚量測儀FE-300加入洽詢 取消洽詢
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崁入式膜厚量測儀加入洽詢 取消洽詢
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膜厚光譜分析儀系統MCPD series加入洽詢 取消洽詢
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LineScan桌上膜厚檢測系統加入洽詢 取消洽詢
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分光光譜儀
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多通道分光光譜儀MCPD-9800加入洽詢 取消洽詢
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多通道分光光譜儀MCPD-6800加入洽詢 取消洽詢
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晶圓厚度&線上膜厚量測設備TE series加入洽詢 取消洽詢
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崁入式膜厚量測儀加入洽詢 取消洽詢
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膜厚光譜分析儀系統MCPD series加入洽詢 取消洽詢
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相位差檢測設備RETS-100nx加入洽詢 取消洽詢
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低相位差高速檢測設備RE-200加入洽詢 取消洽詢
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LineScan桌上膜厚檢測系統加入洽詢 取消洽詢
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量子效率量測系統QE-2100加入洽詢 取消洽詢
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微小化反射率量測反射率量測設備LED導線架&相關材料加入洽詢 取消洽詢
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光電材料評價
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多通道分光光譜儀MCPD-9800加入洽詢 取消洽詢
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顯微分光膜厚量測儀OPTM series加入洽詢 取消洽詢
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晶圓厚度&線上膜厚量測設備TE series加入洽詢 取消洽詢
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相位差檢測設備RETS-100nx加入洽詢 取消洽詢
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低相位差高速檢測設備RE-200加入洽詢 取消洽詢
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LineScan桌上膜厚檢測系統加入洽詢 取消洽詢
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LineScan線上膜厚檢測系統加入洽詢 取消洽詢
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液晶層間隙檢測設備RETS series加入洽詢 取消洽詢
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彩色濾光片檢測設備LCF series加入洽詢 取消洽詢
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Inline線上即時檢測(彩色濾光片製程)加入洽詢 取消洽詢
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動態畫面反應時間檢測儀MPRT-2000加入洽詢 取消洽詢
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顯示器面板&模組檢測設備LCD series加入洽詢 取消洽詢
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量子效率量測系統QE-2100加入洽詢 取消洽詢
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LED 高速光譜分析儀LE-5400加入洽詢 取消洽詢
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配光量測系統GP series加入洽詢 取消洽詢
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光通量量測系統(積分球/積分半球)FM/HM series加入洽詢 取消洽詢
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micro LED光度量測系統 AL-1000加入洽詢 取消洽詢
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