產品分類

以反射率的光干涉量測，可同時分析膜厚、光學常數(n、K值)、絕對反射率。
可搭配顯微鏡可量測小面積區域，量測範圍由1nm~開始。
相關技術應用可參考📖 技術文章-膜厚儀📖 
應該如何選擇膜厚儀🔖膜厚計推薦選擇指南🧾
也可以直接洽詢我們📞洽詢膜厚相關設備📧
search
Copyright © 2021 大塚科技股份有限公司 All Rights Reserved.

您目前為透過後台登入模式

    填寫需求

    商品搜尋

    偵測到您已關閉Cookie，為提供最佳體驗，建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

    依據歐盟施行的個人資料保護法，我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策，以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明。
    本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏。
    Continue