依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明。
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏。
-
界達電位粒徑分析儀ELSZneo
大塚電子物性分析最上位機種
稀溶液到濃溶液,奈米粒徑到固體表面電位評價 -
界達電位粒徑分析儀ELSZ-2000ZS
稀溶液到濃溶液,奈米粒徑到固體表面電位評價
搭載業界最高功率半導體雷射及高感度APD -
多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA
低價格、不妥協的高性能
非浸入、非分注,一鍵5檢體連續量測 -
多檢體奈米粒徑量測自動進樣系統nanoSAQLA+AS50
最多連續量測50個檢體奈米粒徑量測
實現小容量、高速、無汙染自動 -
靜態光散射光度計SLS-6500HL
動態光散射法分析粒徑、量測粒徑分佈。靜態光散射法量測絕對分子量、分子旋轉半徑與第二維里係數
-
高分子相結構分析系統PP-1000
使用小角光散射法(SALS),即時連續量測高分子或薄膜的構造變化