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以光散射技術為基礎開發的各項材料基礎物性值分析。
項目包括界達電位(Zeta potential)、粒徑(Particle size)、固體表面電位等等。
主力產品為界達電位粒徑分析儀ELSZneo，多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA。
橫跨半導體、顯示器、顏料、高分子、先進材料、醫藥、食品、環境能源等等領域。
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界達電位粒徑分析儀ELSZneo
大塚電子物性分析最上位機種
稀溶液到濃溶液，奈米粒徑到固體表面電位評價 -
界達電位粒徑分析儀ELSZ-2000ZS
稀溶液到濃溶液，奈米粒徑到固體表面電位評價
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多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA
低價格、不妥協的高性能
非浸入、非分注，一鍵5檢體連續量測 -
多檢體奈米粒徑量測自動進樣系統nanoSAQLA+AS50
最多連續量測50個檢體奈米粒徑量測
實現小容量、高速、無汙染自動 -
靜態光散射光度計SLS-6500HL
動態光散射法分析粒徑、量測粒徑分佈。靜態光散射法量測絕對分子量、分子旋轉半徑與第二維里係數
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高分子相結構分析系統PP-1000
使用小角光散射法(SALS)，即時連續量測高分子或薄膜的構造變化