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以光散射技術為基礎開發的各項材料基礎物性值分析。
項目包括界達電位(Zeta potential)、粒徑(Particle size)、固體表面電位等等。
主力產品為界達電位粒徑分析儀ELSZ系列，多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA。
橫跨半導體、顯示器、顏料、高分子、先進材料、醫藥、食品、環境能源等等領域。
相關技術應用可參考📖 技術文章-物性分析📖
也可以直接洽詢我們📞洽詢物性分析相關設備📧
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網路研討會【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目，主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。其不僅可以解析固體本身的電位，也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。利用電荷的吸引或斥力，可以延伸出許多研究方向。【場次1】2023/08/17 14:00~15:00 點我報名->>> |
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大塚電子物性分析最上位機種
稀溶液到濃溶液，奈米粒徑到固體表面電位評價 -
界達電位粒徑分析儀ELSZ-2000ZS
稀溶液到濃溶液，奈米粒徑到固體表面電位評價
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動態光散射法分析粒徑、量測粒徑分佈。靜態光散射法量測絕對分子量、分子旋轉半徑與第二維里係數
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高分子相結構分析系統PP-1000
使用小角光散射法(SALS)，即時連續量測高分子或薄膜的構造變化