以光散射技術為基礎開發的各項材料基礎物性值分析。
項目包括界達電位(Zeta potential)、粒徑(Particle size)、固體表面電位等等。
主力產品為界達電位粒徑分析儀ELSZneo,多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA。
橫跨半導體、顯示器、顏料、高分子、先進材料、醫藥、食品、環境能源等等領域。

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