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以光散射技術為基礎開發的各項材料基礎物性值分析。
項目包括界達電位(Zeta potential)、粒徑(Particle size)、固體表面電位等等。
主力產品為界達電位粒徑分析儀ELSZ系列，多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA。
橫跨半導體、顯示器、顏料、高分子、先進材料、醫藥、食品、環境能源等等領域。
相關技術應用可參考📖 技術文章-物性分析📖
也可以直接洽詢我們📞洽詢物性分析相關設備📧
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使用小角光散射法(SALS)，即時連續量測高分子或薄膜的構造變化