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  界達電位粒徑分析量測原理及最新應用

WEBINAR (1920 × 755 公釐) (1)


 
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標,我們歡迎所有對分散性量測技術有興趣的人參與,我們期待與您分享最新的技術發展與實踐經驗,並一同探討光散射量測技術的未來發展方向。
【場次1】2023/11/09 14:00~15:00

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【半導體製程中的膜厚量測技術和挑戰】


半導體製程中的膜厚 量測技術和挑戰 (1920 × 755 公釐)
 
半導體製程的膜厚度是確保製程品質和性能的關鍵因素之一,而準確測量薄膜的厚度則尤為重要。
在這個研討會中,我們將深入探討先進的膜厚量測技術,並討論在實際製程中面臨的挑戰。採用最佳實踐,並掌握未來的發展趨勢。
【場次1】2023/11/29 14:00~15:00
點我報名->>>
Solution

解決方案

  • 奈米材料・新機能材料

  • 精密陶瓷・色料工業

  • 高分子材料

  • 能源・環境工程

  • A
    奈米材料・新機能材料
    奈米材料百百種,用途特色等等更是包羅萬象。但不管是什麼材料,對奈米材料來說最重要的是穩定度。
    不同的粒徑分佈、分散性等等都會直接影響到產品最後的各種性質,不好的分散可能無法得到最初設計這種材料的期待效果。
    另外,產品製作完成後若需要塗布(長膜)等過程,膜層的厚度或是光學常數等等物理性質也會直接影響最後的產品。
對象 用途 相關機型
DLC膜 膜厚 OPTM
奈米碳材 分散安定性 ELSZ
量子點 分散安定性 ELSZ
量子效率 QE
奈米積層膜 膜厚、nk值 OPTM
固體表面電位 ELSZ
奈米金粒子 分散安定性 ELSZ
奈米纖維管 分散安定性 ELSZ
technical article

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