線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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Solution

解決方案

  • 奈米材料・新機能材料

  • 精密陶瓷・色料工業

  • 高分子材料

  • 能源・環境工程

  • A
    奈米材料・新機能材料
    奈米材料百百種,用途特色等等更是包羅萬象。但不管是什麼材料,對奈米材料來說最重要的是穩定度。
    不同的粒徑分佈、分散性等等都會直接影響到產品最後的各種性質,不好的分散可能無法得到最初設計這種材料的期待效果。
    另外,產品製作完成後若需要塗布(長膜)等過程,膜層的厚度或是光學常數等等物理性質也會直接影響最後的產品。
對象 用途 相關機型
DLC膜 膜厚 OPTM
奈米碳材 分散安定性 ELSZ
量子點 分散安定性 ELSZ
量子效率 QE
奈米積層膜 膜厚、nk值 OPTM
固體表面電位 ELSZ
奈米金粒子 分散安定性 ELSZ
奈米纖維管 分散安定性 ELSZ
technical article

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