線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

點我報名->>>

 

【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

點我報名->>>


 
18Feb.2022
膜厚儀

【光學膜厚量測】陶瓷鈦酸鋇材料膜厚量測


用於陶瓷電容器之鈦酸鋇材料,具有高介電係數、高電阻率及低汙染等特性,廣泛用於陶瓷電容器、電阻器方面。
為提升品質,準確監控材料膜厚成為必然。
將鈦酸鋇塗於PET基材上,以膜厚儀掃幅寬方向20點位置,即可得到全膜幅寬之厚度分布情形,可有效監控全面厚度。 
白色粗糙材質容易造成光散亂,使光學式干涉波形無法完整呈現;故使用近紅外光波長段,降低材質造成干擾,量測其厚度。
 
量測條件
高感度多通道分光光譜儀 MCPD-9800
量測項目:反射膜厚
波長範圍:900~1600nm
自動曝光時間:16ms
積算回數:4
測定spot size:4mm
 
量測結果
單層鈦酸鋇以n2.3代入FFT法解析,樣品厚度約為7μm 幅寬方向20點厚度分布清楚可見,中間厚兩端薄。
鈦酸鋇-1鈦酸鋇-2
薄膜鈦酸鋇及再現性
即使厚度僅有0.8μm也可直接測得
連續量測十次再現性,跳動性僅有0.3nm、樣品厚度的0.01%
鈦酸鋇-3鈦酸鋇-4

使用高感度光譜儀量測鈦酸鋇等陶瓷材料厚度,可快速準確量得單點及面內多點厚度分布情況。


 

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏