18Feb.2022
膜厚儀

【光學膜厚量測】陶瓷鈦酸鋇材料膜厚量測


用於陶瓷電容器之鈦酸鋇材料,具有高介電係數、高電阻率及低汙染等特性,廣泛用於陶瓷電容器、電阻器方面。
為提升品質,準確監控材料膜厚成為必然。
將鈦酸鋇塗於PET基材上,以膜厚儀掃幅寬方向20點位置,即可得到全膜幅寬之厚度分布情形,可有效監控全面厚度。 
白色粗糙材質容易造成光散亂,使光學式干涉波形無法完整呈現;故使用近紅外光波長段,降低材質造成干擾,量測其厚度。
 
量測條件
高感度多通道分光光譜儀 MCPD-9800
量測項目:反射膜厚
波長範圍:900~1600nm
自動曝光時間:16ms
積算回數:4
測定spot size:4mm
 
量測結果
單層鈦酸鋇以n2.3代入FFT法解析,樣品厚度約為7μm 幅寬方向20點厚度分布清楚可見,中間厚兩端薄。
鈦酸鋇-1鈦酸鋇-2
薄膜鈦酸鋇及再現性
即使厚度僅有0.8μm也可直接測得
連續量測十次再現性,跳動性僅有0.3nm、樣品厚度的0.01%
鈦酸鋇-3鈦酸鋇-4

使用高感度光譜儀量測鈦酸鋇等陶瓷材料厚度,可快速準確量得單點及面內多點厚度分布情況。


 

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏