18Feb.2022
膜厚儀

【光學膜厚量測】捲對捲(roll to roll)高速線上膜厚監控

高分子捲膜製程膜厚監控

在各種高分子領域中,捲對捲的膜層塗布是其中一段生產過程,在監控膜厚時為了保持商品的完整性,無法以接觸式方法量測。
而在生產速度等於產值下,捲膜速度越快代表產量越高。
捲膜速度除了考驗生產機台本身以外,對光學式量測膜厚的穩定度也是一大考驗。
因為捲對捲通常都會有一定程度的震動,速度越快震動幅度越大,十分考驗膜厚儀的感度(曝光時間)以及穩定度。  
下面實際呈現產線以極限速度(150m/min & 200m/min)捲對捲生產條件下,MCDP光譜儀對膜厚的監控數據。
 

捲膜狀態下膜厚量測條件

量測項目: 反射率、膜厚
量測波長範圍: 400~760 nm
自動曝光時間: 6 msec
積算次數: 4次
光斑大小: 約 3 mm
工作距離: 約 10 mm
 

膜厚量測結果

捲對捲2

我們可以先以靜止量測來觀察機台本身穩定度,標準差為0.0056μm,相對平均值而言大約為0.028%(萬分位)。 接著可以看到150m/min & 200m/min速度下捲膜時,厚度的變動。 高速運轉下量測之穩定性較差,但膜厚數值差異不大。
 

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