線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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MPRT委測服務

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量測項目

1. 動態畫面模糊時間 (Mtion Blur)
2. BET(ms)
3. EBET(ms)
4. MPRT(ms)
5. 動態擬似輪廓(False Contour)
6. 色分離(Color Breakup)
將亮度平均劃分為6個等分,並量測彼此交互搭配所產生的動態畫面 (不包括L0-L1、L1-L0的組合) ,
    再將亮度10-90%的階調解析後所得到的平均值即為MPRT值。

 



顯示器量測條件 

顯示器樣品 平坦 or 曲面
最低量測距離 200mm以上
最低畫素間隔 180~1000µm以上
最低橫向寬度 110mm以上
最低橫向畫素 640pixel以上

※ 曲面對應需適情況而定

顯示器量測 

亮度量測範圍 0.1cd/m2以上
Galvano掃描追蹤性能 ※1 1ms以下
動態畫面顯示速度 ※2 1ms以下
MPRT再現性 ※3 ±1%以內(不包括L0-L1、L1-L0組合)
動態畫面反應曲線 10 bit / ・顯示器發光強度的動畫反應曲線 / ・輝度、色度的動畫面反應曲線
※1視樣品色階255-0或0-255較快的一方,以8pixel / frame的速度移動1/7.5、1/15、1/20 sec的曝光時間取樣畫面。
     以100pixel為一個單位,解析亮度10~90%的最大及最小之差。
※2視樣品色階255-0或0-255的動態畫面糢糊時間較快的一方,以8、12、16 pixel / frame的速度移動。
     曝光時間1/20sec取樣畫面,100pixel為一個單位,解析亮度10~90%的最大及最小之差。
※3曝光時間1/20 sec取樣畫面,移動速度8pixel / frame,共計10次的BET量測平均值(MPRT)
     10次MPRT的標準偏差平均值以百分比顯示。



 

量測畫面範例

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