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【關鍵突破:2024先進材料精準粒子分析研討會】


202405粒徑研討會1
 
本次研討會主題為「2024先進材料精準粒子分析研討會」,超過半世紀粒徑分析開發經驗的大塚電子株式會社的日本量測技術負責人分享最新的應用與量測上的knowhow,各種意想不到的界達電位、粒徑大小、表面電位等在各領域的關鍵突破。 此外,工研院背景的新銳公司邑流微測分享包括半導體及生醫製藥等熱門領域,聚焦在潔淨、智慧製造等關鍵字,引領ESG最新潮流。。
【新竹場】2024/05/21 13:00~
【台中場】2024/05/22 13:00~
【高雄場】2024/05/23 13:00~
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  • 光波動場三次元顯微鏡 MINUK
    25Oct.2023

    MINUK可直接量測nm等級的透明異物・缺陷・表面輪廓等。1次可直接取得深度方向的所有情報,以非破壊・非接觸式量測的裝置。
    並且不需要對焦,可以高速量測自由決定樣品任意位置。

  • 顯微分光膜厚量測儀OPTM series
    28Jun.2023

    非接觸式膜厚量測,最薄從1nm~無須樣品前處理放置即可量測

  • 光譜干涉WAFER測厚儀SF-3
    26Jun.2023
    產品介紹影片

    光譜干涉WAFER測厚儀SF-3

    在CMP過程中,超高速、高精度、非接觸式量測晶圓或樹酯層等厚度。

  • 多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA+自動進樣系統AS50

    兼具品質、顏值、CP值的多檢體粒徑分析專用機
    一鍵5連量測+繁中介面好方便

  • 界達電位粒徑分析儀ELSZ-neo
    04Mar.2022

    稀溶液到濃溶液,奈米粒徑到固體表面電位評價
    搭載全新的窄帶半導體雷射,提高感度
    多角度粒徑量測提高粒徑解析度
    另外新增微流變學黏彈性、粒子濃度、凝膠網絡等全新功能
    全新改良的固態表面電位量測,大大提高操作便利性
    前往洽詢車

  • LineScan膜厚計
    04Mar.2022
    產品介紹影片

    LineScan膜厚計

    線上全膜全幅寬檢查裝置。

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