免費活動

【界達電位粒徑分析量測原理及最新應用】


WEBINAR
 
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標,
內容包括不透光高濃度樣品量測、固體表面電位量測、高鹽度樣品量測等等。
除了以上比較常見問題之外,我們將為您介紹更多有趣的應用。
免費線上活動,趕快一起參加吧!!
 
【時間】2024/10/24 14:00~15:30
點我報名->>>
  • 光波動場三次元顯微鏡 MINUK
    25Oct.2023

    MINUK可直接量測nm等級的透明異物・缺陷・表面輪廓等。1次可直接取得深度方向的所有情報,以非破壊・非接觸式量測的裝置。
    並且不需要對焦,可以高速量測自由決定樣品任意位置。

  • 顯微分光膜厚量測儀OPTM series
    28Jun.2023

    非接觸式膜厚量測,最薄從1nm~無須樣品前處理放置即可量測

  • 光譜干涉WAFER測厚儀SF-3
    26Jun.2023
    產品介紹影片

    光譜干涉WAFER測厚儀SF-3

    在CMP過程中,超高速、高精度、非接觸式量測晶圓或樹酯層等厚度。

  • 多檢體奈米粒徑分析儀nanoSAQLA+自動進樣系統AS50

    兼具品質、顏值、CP值的多檢體粒徑分析專用機
    一鍵5連量測+繁中介面好方便

  • 界達電位粒徑分析儀ELSZ-neo
    04Mar.2022

    稀溶液到濃溶液,奈米粒徑到固體表面電位評價
    搭載全新的窄帶半導體雷射,提高感度
    多角度粒徑量測提高粒徑解析度
    另外新增微流變學黏彈性、粒子濃度、凝膠網絡等全新功能
    全新改良的固態表面電位量測,大大提高操作便利性
    前往洽詢車

  • LineScan膜厚計
    04Mar.2022
    產品介紹影片

    LineScan膜厚計

    線上全膜全幅寬檢查裝置。

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏