線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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  • 1.什麼時候該做機台點檢?會做哪些項目?+

    雖然說大塚的機台以頭好壯壯強健穩定聞名,為了保證機台的數據高精度穩定性,建議您約一年做一次健康檢查,我們稱為『點檢』。
    點檢時會由我司專業專任的工程師到廠進行各項細部檢查,檢查項目隨機台不同而有不同的項目,在檢查完成後會提出正式報告(類似我們的健康檢查報告),確保您寶貴的機台隨時處在最佳狀態!

    以多通道分光光譜儀MCPD系列點檢項目為例:
    • 分光器波長精度檢查
    • Noise Level檢查
    • Dark Level檢查
    • 重複再現性檢查
    • Fiber斷線有無確認
    • 內部清掃、分光器下部的風扇確認、清掃
    • 根據Dark Signal進行補正調整
    • 能量補正(根據機種進行)

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