顯示器
全面 ”進化・深化”
核心技術
核心技術
About Us
關於我們
日本光學檢測儀器大塚電子在台子公司
利用光學的技術，我們的使命是提供具有尖端技術的解決方案。產品包括光學膜厚量測、粒徑界達電位量測、高感度光譜儀等尖端技術。
繼承了大塚集團通過執行力和創造力證明的 DNA，我們專注於我們所做的事情以及我們作為大塚人可以實現的目標。 大塚科技通過其創新和創意的產品和服務，努力為世界各地人們更健康、更繁榮的生活做出貢獻。
全面 ”進化・深化”
核心技術
核心技術
服務據點
售後服務
Solution
產品與應用產業
-
01
顯示器 Display藉由分光量測技術代名詞的分光光譜儀與長年累積的專業解析技術提供全方位的光學檢測設備。Read More
在對應多樣化的顯示器量測需求的同時，我們也持續不斷向更廣泛的產業領域持續拓展。 -
LED
03
LED Light Emitting Diode利用光學的技術，針對各種自發光體(包括LED)提供輝度, 照度, 光通量流明值, 配光等各項解決方案, 使用高感度光譜儀針對微小發光體也能有高精度, 高再現性的量測結果。Read More
- 01
- 02
- 03
- 04
- 05
- 06
Event message
活動消息
Webinars and Events
-
24Sep.2025
20251023 線上研討會 【界達電位粒徑分析量測原理及最新應用】
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標，除了一般的量測以外，我們還將分享包括不透光樣品、高鹽度樣品、固體樣品等等大塚特有的量測強項。
-
08Aug.2025
20250923線上研討會 【半導體量測技術應用分享：CMP製程中界面電荷行為分析與TGV孔洞3D形貌量測】
本場將深入探討奈米尺度觀察技術在先進半導體製程中的應用，首先解析CMP製程中晶圓與研磨液之間的界面電荷行為，說明其對製程穩定性與成品品質的影響；其次介紹TGV孔洞三維形貌量測技術，分享實際案例與最新觀測成果，協助業界掌握製程優化與檢測新趨勢。
-
30Jul.2024
【輕巧便攜✨】零經驗也能用！手持式SMART膜厚計 ⭕高精度・非破壞・隨身攜帶⭕
高精度、非破壞、手持式膜厚計，可攜帶到現場的手持式輕量機型(約1.1Kg)，0.1μm單位的量測精度,0.01μm的重複精度，以非破壞式量測各類形狀的樣品，不限定基材材質，可量測coating膜層，不需要量測經驗，可快速得到精準的膜厚結果。
Technical Articles
技術文章
Popular Technical Articles
-
29Jan.2026
電泳光散射ELS是什麼？圖解量測原理與Zeta電位方法！
在膠體、懸浮液或奈米粒子系統的穩定性分析中，「電泳光散射（Electrophoretic Light Scattering，ELS）」是一項重要的量測技術。透過施加電場讓帶電粒子產生電泳運動，ELS結合都卜勒頻移分析，即可精準推算粒子的Zeta電位。 Zeta電位為界面電性的重要指標，可用於判斷系統穩定性、表面修飾效果或分散行為，應用橫跨材料科學、半導體、製藥與環境工程等領域。本文將以圖解方式說明電泳光散射的量測原理，並介紹Zeta電位的常見量測方法與條件，協助你掌握界面科學分析的核心工具！
-
13Jan.2026
DLS Troubleshooting是什麼？5大DLS方法開發必學技巧大公開！
當進行DLS方法開發時，常見如樣品濃度設定不當、溫控未穩定、多重散射干擾等問題，皆可能影響粒徑量測結果的準確性與再現性。故具備系統化的DLS Troubleshooting能力，已成為研發與品保流程中不可或缺的技術之一。接下來，本文將深入說明DLS Troubleshooting是什麼，並從方法開發的角度出發，協助技術人員優化量測參數、提升報告品質，進而建立可標準化的分析流程！
-
05Jan.2026
多分散指數PDI是什麼？5大必知實務解讀，掌握品管調整目標！
PDI是用來評估樣品中粒子大小分布是否均勻的重要指標，對於奈米粒子、膠體、乳液、藥物傳遞系統等領域來說，都是重要的參數。本文將說明PDI與Z-average平均粒徑的定義與限制，並結合粒徑分佈概念，協助正確解讀DLS量測結果。
