線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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售後服務終止清單

大塚電子製品 售後服務終止清單說明

感謝親愛的客戶長期以來對我們的支持和信任!向貴公司表示最衷心的感謝和最誠摯的祝福!
由於敝司在台灣所販售的相關光學檢測設備有不少的數量,因此沿用敝司總公司大塚電子株式會社發布於官網上的資料向所有客戶說明。
以設備機型為對象列表註明服務現況,請客戶自行查詢若有疑問亦可直接電話聯繫敝司的售服工程師諮詢。
藉此提醒親愛的客戶,設備整體的劣化趨勢以及其中所使用的零件慢慢地都可能會面臨停產的命運,甚至沒有替代品可以使用。
因此,敝司建議應考量設備故障而無法修復的風險,盡早規畫新設備的評估與採購。
請參考下列機台清單。
 

1. 大塚電子製品_售後服務終止清單通知.PDF

2. MCPD系列五機種售後服務終止通知.PDF

3. Moritex Halogen Light sources 停產通知.PDF

※最後受理訂單截止時間:2022年11月底 

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