線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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公司簡介

公司簡介

 
      公司名稱             大塚科技股份有限公司      
      英文商號             Otsuka Tech Electronics Co., Ltd.      
      公司成立             2003年10月      
      資本金額             新台幣一千五百萬元      
      年營業額             新台幣三億二千萬元      
      公司負責人             蘇琇茹      
      總公司地址             10483台北市中山區松江路237號4樓 田明大樓(松江)
台北本社      
      事務所地址             700台南市中西區永福路一段189號7F D2室(國泰置地廣場)
台南事務所      
      事業內容             (1)科學儀器、光學儀器、醫療儀器、工業計測裝置及其零件以及附屬品的開發、製造、販賣、修理以及進出口
(2)試藥的製造、販賣以及進出口
(3)科學儀器、光學儀器、工業計測裝置委託量測及數據提供
(4)前各項附帶一切相關事業      
      員工人數             35人      
      主要客戶       顯示器、半導體、電子、精密儀器關係,化學、食品關係,醫藥關係,試驗、研究機關關係,大學,官方研究機構      
      往來銀行             上海商業儲蓄銀行
三菱東京UFJ銀行      
      相關企業             日本大塚製藥株式會社
日本大塚電子株式會社
韓國大塚電子株式會社
大塚電子(蘇州)有限公司
Ever Tech Instrumental Co.,Ltd.      
 

公司沿革

 
2003 大塚科技股份有限公司成立
2004 台南事務所成立
2006 取得ISO 9001:2000光學設備安裝維修與銷售 認證
2007 大塚電子(蘇州)有限公司成立
2014 網站改版
2015 台南辦公室搬遷
商標CS變更
2016 台北辦公室搬遷
2021 更新 ISO 9001:2015 光學檢查設備之設計/開發、銷售與維修安裝 認證
2022 網站全新升級
 

 

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