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11Sep.2023
20231129線上研討會 【半導體製程中的膜厚量測技術和挑戰】
半導體製程的膜厚度是確保製程品質和性能的關鍵因素之一，在這個研討會中，我們將深入探討傳統和先進的膜厚量測技術，並討論在實際製程中面臨的挑戰。
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10Aug.2023
20231109線上研討會 【界達電位粒徑分析量測原理及最新應用】
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標，除了一般的量測以外，我們還將分享包括不透光樣品、高鹽度樣品、固體樣品等等大塚特有的量測強項。
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05Jun.2023
2023線上研討會 【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】
你知道電位量測除了在溶液中，也有在固體的量測方法嗎?
我們將介紹固體表面電位量測方法以及與其他量測方法比較，並著重於介紹固體表面電位的實用範例供您參考。 -
27Mar.2023
研討會2023/05/31 & 06/01 【先端材料精準解析:全方位粒徑分析先進技術與應用】
本次研討會包含動態光散射、影像處理、SEM等多種粒徑分析技術，希望能為大家提供更多元的產學界的學術交流與產業應用。
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03Mar.2023
2023線上研討會 【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術，包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度，精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
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03Oct.2022
【台北國際儀器展】2022.10.28~31大塚科技與辛耘企業聯合展出
三年一度台北國際儀器展，大塚科技與辛耘企業共同展出。
現場眾多儀器展示及專業人員解說，歡迎產業先進蒞臨參觀指導。 -
25Mar.2022
線上新機說明介紹會~2022.09.22 【ELSZneo線上新機說明會】
大塚電子集結半世紀以來散射光研究經驗，全新進化升級。
最穩定、最高精度、對應最多樣的樣品的界達電位粒徑分析儀。 -
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