線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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05Mar.2019
活動訊息

感謝蒞臨~ 高分子球晶 & 相構造解析、界達電位、奈米粒徑分析研討會(5/14&16)

♦新竹場
4
4-2

♦高雄場
4-3

敬邀參觀(免費報名)
敬邀各位學術產業先進共襄盛舉蒞臨指教(現場備同步口譯)
敝司於與辛耘企業合辦,舉辦高分子球晶 & 相構造解析、界達電位、奈米粒徑分析研討會 去年舉辦廣受好評的奈米粒徑界達電位研討會,
今年結合新產品高分子相構造解析系統PP1000發表會。
新竹場 05/14(二)9:00~16:30/工研院中興院區77館101-102會議室
高雄場 05/16(四)9:00~16:30/高雄國際會議中心ICCK 605會議廳  

課程目標
●上午課程:日本光學大廠大塚電子進行新產品說明會:最新發表高分子相解析系統(PP1000),以小角光散射法動態解析高分子構造,可量測目前普遍X射線或中性子射線所無法測量的較大的高分子構造(μm等級)。 掌握結晶速度、球晶徑、光學異方性、相關長等等高分子不可不知道的性質。
●下午課程:帶您深入淺出了解奈米粒徑及界達電位的理論基礎以及實際應用:特邀日本講師來台,三十年間不間斷量測各大領域的各種樣品,見證日本產業的最新發展。針對您粒子的聚集分散問題,以及各種應用做詳細介紹。(現場有同步翻譯) 奈米粒徑─便利的無汙染一鍵多檢體量測,不透光樣品原液測量。 界達電位─從液態溶液到固態板狀樣品,從稀溶液到不透光濃溶液,從無極性有機溶劑到高鹽濃度樣品。  

議程
4-3


報名方式

●新竹場

網路報名:http://wlsms.itri.org.tw/ClientSignUp/Index.aspx?ActGUID=5A55888840

傳真報名:填妥報名表,新竹場傳真至03-5820237

●高雄場

Email報名:高雄場填妥報名表,回傳mila.ma@scientech.com.tw

傳真報名:填妥報名表,高雄場傳真至07-716-1180


諮詢專線

4-4


 

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