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高精度薄膜解析分光橢偏儀、測定角度可自動調整機構、能對應所有可透光種類的薄膜。
以回轉檢光子、位相差板設置自動切換機構使測定精度提升。最小光學膜厚測定範圍從0.1nm到1um.
相關技術應用可參考📖 技術文章-膜厚儀📖
應該如何選擇膜厚儀🔖膜厚計推薦選擇指南🧾
也可以直接洽詢我們📞洽詢膜厚相關設備📧
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橢圓偏光量測儀FE-5000S
使用光譜橢圓法分析方法的薄膜厚度測量儀。
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