線上免費活動

  界達電位粒徑分析量測原理及最新應用

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不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標,我們歡迎所有對分散性量測技術有興趣的人參與,我們期待與您分享最新的技術發展與實踐經驗,並一同探討光散射量測技術的未來發展方向。
【場次1】2023/11/09 14:00~15:00

點我報名->>>


 

【半導體製程中的膜厚量測技術和挑戰】


半導體製程中的膜厚 量測技術和挑戰 (1920 × 755 公釐)
 
半導體製程的膜厚度是確保製程品質和性能的關鍵因素之一,而準確測量薄膜的厚度則尤為重要。
在這個研討會中,我們將深入探討先進的膜厚量測技術,並討論在實際製程中面臨的挑戰。採用最佳實踐,並掌握未來的發展趨勢。
【場次1】2023/11/29 14:00~15:00
點我報名->>>
05Jun.2023
活動訊息

2023線上研討會 【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

活動已結束,感謝各位先進熱烈參與。
期待下次再相見。


活動概要

您知道電位量測除了在溶液中,也有在固體的量測方法嗎?
量測固體的表面電位可以進一步研究固體與液體接觸面可能產生的電荷交互作用。例如:晶圓-研磨液,食品-容器,高分子膜-塗佈液等等。
我們將介紹固體表面電位量測方法以及與其他量測方法比較,並著重於介紹固體表面電位的實用範例供您參考。

固體表面電位線上研討會


固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。

本次研討會將包括以下內容:
  • 固體表面電位是什麼?
  • 固體表面電位的量測方法。
  • 與其他方法的差異
  • 固體表面電位的實用範例

我們歡迎所有對表面電位量測技術有興趣的人參與,尤其是在光學製造、半導體、顯示器、材料研發等領域工作的工程師及科學家,以及想要更深入了解的各位產業先進與學術同仁。我們期待與您分享最新的技術發展與實踐經驗,並一同探討量測技術的未來發展方向。
活動名稱 固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹
時間 2023/08/17(四) 14:00~15:00
 地點 Microsfot teams線上軟體
參加費用 免費
講座內容 固體表面電位是什麼?
固體表面電位的量測方法。
大塚與其他方法的差異。
固體表面電位的實用範例。
*活動參加連結預計於活動開始前3~7天寄送至您填寫的email。

本線上研討會使用“Microsoft Teams”於線上舉辦,申請參加者請於活動時間前5分鐘連線進入。
※在接續網路的狀態下,無論是由電腦、平板電腦、智慧型手機都可在安裝「Microsoft Teams」後參加。
※請事前確認網路、音訊裝置等,並事先下載安裝「Microsoft Teams」軟體。 
※如果您是使用電腦,可直接由瀏覽器開啟。 ※推薦瀏覽器: Microsoft Edge或是 Google Chrome
※於研討會結束後於規定時間內填寫線上問券,將於日後提供您該課程電子講義。
※本活動謝絕同業參加,並禁止於研討會期間錄音錄影,敬請見諒。

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