依據歐盟施行的個人資料保護法，我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策，以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明。
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏。
21Aug.2023
活動訊息
20230908半導體先進檢測與計量國際論壇
最新活動消息
伴隨2023SEMICON Taiwan 國際半導體展舉辦，大塚電子參加9/8於南港展覽館舉辦-半導體先進檢測與計量國際論壇，包含最新量測技術分享。| 演講主題 | Applications in Semiconductor Manufacturing Process ＊Semiconductor Advanced Inspection and Metrology Forum |
|---|---|
| 時間 | 2023年9月8日（五） 13：30～14：10 |
| 地點 | 南港展覽館㇐館5樓500會議室 |
| 參加費用 | 需購票 |
| 報名資訊 | 半導體先進檢測與計量國際論壇 |
| 講演內容 | 以新產品光波動場三次元顕微鏡 MINUK®為主軸，分享最新的膜厚量測及應用事例。 |
半導體先進檢測與計量國際論壇
2023-09-08 | 上午 8:30 - 下午 4:20
其他相關訊息
-
11.Sep.2023
20231129線上研討會 【半導體製程中的膜厚量測技術和挑戰】
-
10.Aug.2023
20231109線上研討會 【界達電位粒徑分析量測原理及最新應用】
-
05.Jun.2023
2023線上研討會 【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】