線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

點我報名->>>

 

【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

點我報名->>>


 
16Jun.2021
活動訊息

線上研討會~2021.08.19【奈米粒徑的量測與實踐】

本次活動已結束,感謝各位先進熱烈參與。


活動名稱: 奈米粒徑的量測與實踐

活動時間: 2021/08/19 (四) 15:00~16:00

參加費: 免費

奈米粒徑研討會

本線上研討會使用“Microsoft Teams”於線上舉辦,申請參加者請於活動時間前5分鐘連線進入。

※在接續網路的狀態下,無論是由電腦、平板電腦、智慧型手機都可在安裝「Microsoft Teams」後參加。

※請事前確認網路、音訊裝置等,並事先下載安裝「Microsoft Teams」軟體。

→ 前往安裝軟體

※如果您是使用電腦,可直接由瀏覽器開啟。

※推薦瀏覽器: Microsoft Edge或是 Google Chrome

※於研討會結束後於規定時間內填寫線上問券,將於日後提供您該課程電子講義。

※本活動謝絕同業參加,並禁止於研討會期間錄音錄影,敬請見諒。
 

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