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03Mar.2023
活動訊息
2023線上研討會 【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】
活動概要
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術，包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度，精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
本次研討會將包括以下內容:
本次研討會將包括以下內容:
- 光學膜厚計的使用情境與必要性
- 光學膜厚計OPTM介紹
- 光學膜厚的原理
- 最新膜厚應用
- 相關產品介紹
我們歡迎所有對光學膜厚量測技術有興趣的人參與，尤其是在光學製造、半導體、顯示器、材料研發等領域工作的工程師及科學家，以及想要更深入了解的各位產業先進與學術同仁。我們期待與您分享最新的技術發展與實踐經驗，並一同探討光學膜厚量測技術的未來發展方向。
| 活動名稱 | 掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用 |
|---|---|
| 時間 | 場次1 : 2023/06/28 15:00~16:00 場次2 : 2023/07/05 14:00~15:00 ＊場次1與場次2內容一致，選擇其中一場報名即可。 |
| 地點 | Microsfot teams線上軟體 |
| 參加費用 | 免費 |
| 講座內容 | 光學膜厚計的使用情境與必要性 光學膜厚計OPTM介紹 光學膜厚的量測原理 最新膜厚量測應用 相關產品介紹 |
本線上研討會使用“Microsoft Teams”於線上舉辦，申請參加者請於活動時間前5分鐘連線進入。
※在接續網路的狀態下，無論是由電腦、平板電腦、智慧型手機都可在安裝「Microsoft Teams」後參加。
※請事前確認網路、音訊裝置等，並事先下載安裝「Microsoft Teams」軟體。 → 前往安裝軟體
※如果您是使用電腦，可直接由瀏覽器開啟。 ※推薦瀏覽器: Microsoft Edge或是 Google Chrome
※於研討會結束後於規定時間內填寫線上問券，將於日後提供您該課程電子講義。
※本活動謝絕同業參加，並禁止於研討會期間錄音錄影，敬請見諒。
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