線上免費活動

  界達電位粒徑分析量測原理及最新應用

WEBINAR (1920 × 755 公釐) (1)


 
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標,我們歡迎所有對分散性量測技術有興趣的人參與,我們期待與您分享最新的技術發展與實踐經驗,並一同探討光散射量測技術的未來發展方向。
【場次1】2023/11/09 14:00~15:00

點我報名->>>


 

【半導體製程中的膜厚量測技術和挑戰】


半導體製程中的膜厚 量測技術和挑戰 (1920 × 755 公釐)
 
半導體製程的膜厚度是確保製程品質和性能的關鍵因素之一,而準確測量薄膜的厚度則尤為重要。
在這個研討會中,我們將深入探討先進的膜厚量測技術,並討論在實際製程中面臨的挑戰。採用最佳實踐,並掌握未來的發展趨勢。
【場次1】2023/11/29 14:00~15:00
點我報名->>>
03Oct.2022
活動訊息

【台北國際儀器展】2022.10.28~31大塚科技與辛耘企業聯合展出

活動圓滿結束,感謝各位參加!
310136
 

三年一度台北國際儀器展,大塚科技與辛耘企業共同展出。
現場眾多儀器展示及專業人員解說,歡迎產業先進蒞臨參觀指導。  


【展示日期】:2022年10月28日(星期五) ~ 10月31日(星期一)
【展示時間】:09:00am~17:00pm
【展示地點】:台北世貿展覽中心一館 (台北市信義路5段5號)
【攤位號碼】: 與辛耘企業共同出展 B726
儀器展平面圖
 

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏