線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

點我報名->>>
 



光學膜厚量測線上研討會
 
03Oct.2022
活動訊息

【台北國際儀器展】2022.10.28~31大塚科技與辛耘企業聯合展出

活動圓滿結束,感謝各位參加!
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三年一度台北國際儀器展,大塚科技與辛耘企業共同展出。
現場眾多儀器展示及專業人員解說,歡迎產業先進蒞臨參觀指導。  


【展示日期】:2022年10月28日(星期五) ~ 10月31日(星期一)
【展示時間】:09:00am~17:00pm
【展示地點】:台北世貿展覽中心一館 (台北市信義路5段5號)
【攤位號碼】: 與辛耘企業共同出展 B726
儀器展平面圖
 

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