線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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25Mar.2022
活動訊息

線上研討會~2022.05.25 【全範圍粒子分析:微奈米粒徑最佳解析技術講座】

活動已圓滿結束,感謝各位熱烈參加。

大塚科技 x 辛耘企業 x 邑流微測 聯合舉行

 

活動概要

新材料的開發關乎各產業的發展,從開發到量產階段都有很多重要的參數需要調控。
『細微化』不管在哪個產業中都是各種材料的一大挑戰。其中粒徑分佈更會直接影響到該材料,不理想的分散可能會影響物品的保存,或最終無法達到我們預期的物理性質。
這次,我們與長久以來的合作夥伴辛耘企業,以及台灣工研院新創技術背景的FlowVIEW 邑流微測聯合舉辦。
橫跨了微米與奈米尺度,在產品從開發到量產階段,為各位介紹各範圍下最新最正確的粒徑分析技術與解決方案。
活動名稱 全範圍粒子解析
微奈米粒徑最佳解析技術講座
時間 2022/05/25 PM14:00
地點 線上軟體
參加費 免費
講座內容 ●奈米粒徑分散性量測:
研發・品管・自動化線上分析全方位解決方案
●強化可靠度:
AI自動影像粒徑分析最佳解
 

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