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【從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢】


2025量測技術研討會_banner

 
本研討會主題為從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢。聚焦於粒徑與形態分析技術的最新進展,涵蓋光散射、3D顯微、晶片電位與流體粒子影像分析等領域。透過業界專家的專題演講,探討從奈米尺度到微米尺度之量測應用,並解析未來技術發展趨勢,協助與會者掌握在材料、生醫與半導體等領域中的關鍵分析能力。
【時間】台南場 2025/06/17 PM13:30~
【時間】新竹場 2025/06/18 PM13:30~
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01Apr.2022
新品上架

新產品-界達電位奈米粒徑分析儀ELSZneo

 

界達電位奈米粒徑分析儀ELSZ-neo

大塚電子集結半世紀以來散射光研究經驗,全新進化升級。
最穩定、最高精度、對應最多樣的樣品的界達電位粒徑分析儀。

ELSZ-neo

稀溶液到濃溶液,奈米粒徑到固體表面電位評價
 
搭載全新的窄帶半導體雷射,提高感度
 
多角度粒徑量測提高粒徑解析度
 
另外新增微流變學黏彈性、粒子濃度、凝膠網絡等全新功能
 
全新改良的固態表面電位量測,大大提高操作便利性

n  中文介面好親切

全繁體中文介面+好用的軟體,原廠標配哪裡找?

n  硬體升級好給力

搭載窄帶半導體雷射,業界輸出功率最強!搭配新型APD偵測器感度是過去機種的1.7倍。

n  全新功能好神奇

粒徑多角度、黏彈性、粒子濃度、凝膠結構..全新功能,一起來看看能用在哪裡吧!

n  模組改良好輕鬆

全新改良的固態表面電位模組不再需要工具,徒手安裝只要20!

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