免費活動

【從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢】


2025量測技術研討會_banner

 
本研討會主題為從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢。聚焦於粒徑與形態分析技術的最新進展,涵蓋光散射、3D顯微、晶片電位與流體粒子影像分析等領域。透過業界專家的專題演講,探討從奈米尺度到微米尺度之量測應用,並解析未來技術發展趨勢,協助與會者掌握在材料、生醫與半導體等領域中的關鍵分析能力。
【時間】台南場 2025/06/17 PM13:30~
【時間】新竹場 2025/06/18 PM13:30~
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27Aug.2019
活動訊息

感謝蒞臨~2019第14屆台北國際儀器展 (10/25-28)

三年一度台北國際儀器展,大塚科技與辛耘企業共同展出。
現場眾多儀器展示及專業人員解說,歡迎產業先進蒞臨參觀指導。  


【展示日期】:2019年10月25日(星期五) ~ 10月28日(星期一)
【展示時間】:09:00am~17:00pm
【展示地點】:台北世貿展覽中心一館 (台北市信義路5段5號)
【攤位號碼】: 與辛耘企業共同出展 B519

♦活動照片

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