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MINUK
光波動場三次元顯微鏡 MINUK
MINUK可直接量測nm等級的透明異物・缺陷・表面輪廓等。
不僅只於表面，1次可直接取得深度方向的所有情報。
以非破壊・非接觸式量測的裝置。
並且不需要對焦，可以高速量測自由決定樣品任意位置。
不僅只於表面，1次可直接取得深度方向的所有情報。
以非破壊・非接觸式量測的裝置。
並且不需要對焦，可以高速量測自由決定樣品任意位置。
量測項目
- nm級非接觸3D顯微成像
產品特色
產品特色
- nｍ等級的透明異物・缺陷量測評價
- 不僅只於表面，1次取樣瞬間取得深度方向的情報
- 無需對焦即可高速量測
- 非破壞・非接觸・非侵入式量測
- 輕鬆掃描量測面內任意位置深度
光波動場三次元顯微鏡介紹影片
MINUK操作說明
👉什麼是MINUK⁉️
以MINUK僅需一次取樣即可快速獲得所有深度方向的情報，「看穿」待測物的所有一切。
規格樣式
| 光波動場三次元顯微鏡 MINUK | |
|---|---|
| 解析度 x,y | 691nm（一次取樣）、488nm（合成） |
| 視野 x,y | 700×700μm |
| 解析度 z | 10nm（位相差） |
| 視野 z | ±700μm |
| 樣品尺寸 | 100×80×t20mm（使用泛用載台時） |
| 樣品載台 | 微調XY載台（自動） X:±10mm Y：±10mm 粗調載台 X：129mm Y：85mm |
| 雷射光源 | 波長 638nm 功率 0.39mW 以下 Class1 (量測樣品的照射強度) |
| 機台尺寸 | 機台本體：505（W）×630（D）×439（H） ±20mm ※不含電腦、附屬品 |
| 重量 | 約 41kg |
| 電力 | 機台本體：290VA ※不含電腦、附屬品 |
量測範例
將肉眼不可見的透明薄膜表面可視化・定量化
以非接觸・非破壊・非侵入方式取得nm奈米等級的形狀情報。一次取樣即可取得深度方向的所有情報，將肉眼不可見的透明薄膜表面的傷痕、缺陷等橫切面形狀數值化。
觀察透明薄膜內部的填充料
肉眼不可見的透明薄膜內部的填充料，由一次取樣即可觀察。量測後可自由改變深度方項，識別各個深度的填充料。
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