RETS-100nx

相位差檢測設備RETS-100nx

兼具廣泛用途與高精度、所有光學機能膜材皆可對應

薄膜、光學材料:
Retardation(波長分散)、遲相軸、Rth(*1)、3維折射率(*1) 等
偏光板:
吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種穿透率 等
液晶Cell:
Cell Gap、Pre-tilt角(*1)、Twist角、配向角等

*1:需要傾斜旋轉量測台。(選購品)

量測項目

  • Retardation(波長分散)
  • 3維折射率
  • Rth
  • 遲相軸
  • 偏光度、吸収軸、消光比
  • 配向角
  • Twist角
  • Pre-tilt角
  • Cell Gap

產品資訊

產品特色
獨自開發的分光器可提供高精度量測
■ 高精度


■支援各量測範圍  Retardation : 0 ~ 60000nm
1
超高相位差量測 -可高速・高精度量測超複曲折膜-
■ 高相位差
1

多層量測 -無須剝離、以非破壞式量測各種光學機能膜材的積層狀態
1

軸角度補償功能 -樣品設置有誤差也可輕鬆完成再現性量測-
■ 樣品重製10次,對角度補償有無的結果比較
  【 樣品:相位差膜R85 】
1

簡單易懂的軟體 -量測時間及解析時間大幅縮短。操作性大幅UP-
1

 

規格樣式

  RETS-100nx
Retardation
量測範圍
0 ~ 60,000nm
Retardation
可反覆操作
3σ≦0.08nm(水晶波長板 約600nm)
Cell Gap
量測範圍
0 ~ 600μm(當Δn=0.1時)
Cell Gap
可反覆操作
3σ≦0.005μm(當Cell Gap約3μm、Δn=0.1時)
軸檢出
可反覆操作
3σ≦0.005μm(當Cell Gap約3μm、Δn=0.1時)
量測波長範圍 400 ~ 800nm(有其他選擇)
探測器 多通道分光光譜儀
量測外徑 φ2 or φ5㎜(標準規格)
光源 100W 鹵素燈
數據處理部 個人電腦、伺服器
量測台尺寸
標準
100mm × 100mm(固定量測台)
設備尺寸 W480 × D520 × H765mm
選購品 ‧超高Retardation量測
‧多層量測
‧軸角度補償功能
‧XY量測台(自動・手動)
‧傾斜旋轉量測台(自動・手動)
 

光學系統(量測台)

提供最佳的光學量測台系列
RETS100 光学 T2 3種 W1280
                   固定量測台                              傾斜旋轉量測台(自動・手動)                  XY量測台(自動・手動)
 

 

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