MCPD-6800

多通道分光光譜儀MCPD-6800

用途最多! 通用性最高的標準機型光譜儀
多通道分光光譜儀高速量測紫外光(UV)、可見光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜
最短16msec、可對應生產線上高速量測。最長65sec的露光時間亦可對應。
感光元件是電子制冷型光電二極管陣列 PDA-512ch。展現出優異的高再現性
不限制標準配備光纖及樣品種類,可對應各種光學測定系統
功能豐富的專用軟體,可進行顯微分光、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測

量測項目

  • 光譜儀客製化方案
  • 穿透、吸收光譜
  • 反射光譜
  • 發光光譜
  • 光度
  • 色度 Chromaticity
  • 偏光度
產品特色
・多通道分光光譜儀高速量測紫外光(UV)、可見光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜
・16msec的高速光譜解析
・功能豐富的專用軟體,可進行顯微分光、發光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測
・不限制標準配備光纖及樣品種類,可對應各種光學測定系統
・迷光率較歷代機種減少1/5
・實現高速化曝光時間及高線性
・輕量化裝置,容積比較過去機種減少約60%
 

♦根據用途的各種檢測器陣容

以最高階機種MCPD-9800為首,有3種類12個波長範圍的檢測器。
可依照客戶的需求及量測用途,選擇最合適的檢測器。
MCPD1

 

♦通信介面可對應USB及LAN

具備通用的USB接口及搭載遠程遙控量測的LAN通信功能,使得便利性及測量用途的範圍增加。
 

♦高速・高感度測量光譜

針對時時變化的紫外線、可視光、近紅外領域的發光、透過及吸收光譜,利用512ch或1024ch的檢測單位及檢測器內部記憶體,可以最高速5微秒(使用MCPD-9800的情況下)為間隔進行高感度及高精度的測量。
MCPD2
 

♦利用光纖搭建自由好用的光學系

透過標配的光纖,不受樣品形狀及大小的約束,可自由搭建想要的光學系。
此外,可簡單與顯微鏡及大型平台等其他裝置組合,因此在任何領域都可發揮卓越的性能。
 
可靠性

♦對應日本工業標準(JIS)!可提供高性能的分光測光器

MCPD符合日本工業標準JIS Z8724(颜色的量測方法-光源色)中對分光測光器的精度要求。
1.波長刻度的正確性
       波長的偏差低於0.5m以下
2.測光刻度的正確性
       強度比2:1的直線偏差低於0.5%以內
       此時的再現性於0.2%以內
       強度比10:1的直線偏差低於1%以內
       此時的再現性於0.5%以內
3.雜散光
       白熾燈作為光源時450nm的雜散光於1.0%以下
4.有效受光面
       不感帶的分散方向的寬度,於受光素子的間隔的1/5以下
5.準直儀
       焦點距離和繞射光柵的刻線密度和面積於3x 10^4以上

 

♦可追溯至國家標準,提供可靠的校正服務

在根據计量法制定的校正實驗室註冊制度(JCSS*1註冊制度)下,大塚電子的光計測實驗室被認證為屬於“光”註冊分類的國際MRA*2應對的JCSS校正實驗室。
為了能公正評估照明器具和光源的性能,不分國内海外都不斷推進光特性的測定方法等各種標準化,這些標準化所要求的測光,均以“光”的可追溯性為基礎。
大塚電子透過「光」的校正事業,提供測光的可追溯性, 不斷為普及及發展節能環保的照明貢獻一份心力。

*1 JCSS(Japan Calibration Service System):計量法校正事業者登録制度
*2 国際MRA(Mutual Recognition Agreement):國際相互承認
MCPD3

 
豐富的客製化項目
備有豐富的選配套件以及分析軟體。
藉由累積的技術與專業知識、提供比客戶需求更進一步的“最佳方案”。
MCPD4


 
 
  2285C 3095C 3683C 3610C
波長範圍 220~850nm 300~950nm 350~830nm 360~1000nm
分光光柵 全息成像光柵
感光元件 電子制冷型光電二極管陣列 (PDA ) 512ch
解析能力
(nm/素子)
1.5 1.5 1.1 1.7
曝光時間  16msec ~ 65sec
光纖規格 石英製光纖、固定口徑φ12mm、長約2m
通訊介面 USB or LAN
消費電力 100VA、 單相 AC 100 ~ 230V 50/60 Hz
尺寸重量 105(W)x 280(H)x 215(D)mm、約6kg

提供最適用的方案滿足各種需求

  • 穿透・吸收量測系統

    ◎彩色濾光片穿透吸收量測
    ◎透鏡、薄膜等可穿透材料評價
    ◎光學零件、穿透吸收量測
  • 溶液特性量測系統

    ◎各種溶液吸收光譜量測
    ◎溶液成份濃度量測
    ◎溶出試驗
  • 微小化區域擴散反射系統

    ◎採用積分半球、提高粗糙表面量測重複性精度
    ◎可透過CCD鏡頭觀察量測點位狀態

    ◎量測各種零件微小區域反射率(Leader frame等)

  • 膜厚量測系統

    ◎薄膜、塗布膜、保護膜等膜厚
    ◎晶圓上膜厚、玻璃基板上膜厚、鋁基板上膜厚
     
  • 反射量測系統

    ◎光學材料、反射板表面特性
    ◎各種玻璃反射特性
    ◎抗反射膜層特性(抗反射膜、太陽能電池...等)
  • 表面色量測系統

    ◎塗料、塗布面色彩管理與退色性測試
    ◎紙、印刷物測色
    ◎布、粉體、塑膠製品...等色彩評價
  • 發光・ 螢光量測系統

    ◎各種發光、螢光量測(LED用、量子點...等)
     
  • 光通量量測系統

    ◎量測各種光源光通量
    ◎LED、OLED...等光源色量測
  • 配光量測系統

    ◎自動控制2次元測角器、量測各角度光譜分佈
    ◎依據不同角度之光譜分佈可評價光度與色度分佈
  • 顯微分光量測系統

    ◎顯微鏡下的微小面積量測(反射、穿透、吸收)
    ◎膜厚量測(薄膜、各種基板上膜層、保護膜)
     
  • 多點自動切換量測系統

    ◎蒸鍍膜、濺鍍膜反射率及穿透率量測(FPC...等)
    ◎半導體晶圓上膜厚、各種板材上膜厚量測
    ◎各種基板上膜層量測
  • 線上即時量測系統

    ◎機能性薄膜品質管理
    (HC、AR、ITO、燃料電池、蓄電池...等)
     
technical article

技術文章

  • 【光學膜厚量測】陶瓷鈦酸鋇材料膜厚量測
    18Feb.2022

    【光學膜厚量測】陶瓷鈦酸鋇材料膜厚量測

    用於陶瓷電容器之鈦酸鋇材料,具有高介電係數、高電阻率及低汙染等特性,廣泛用於陶瓷電容器、電阻器方面。
    為提升品質,準確監控材料膜厚成為必然。

  • 【光學膜厚量測】捲對捲(roll to roll)高速線上膜厚監控
    18Feb.2022

    【光學膜厚量測】捲對捲(roll to roll)高速線上膜厚監控

    在各種高分子領域中,捲對捲的膜層塗布是其中一段生產過程,在監控膜厚時為了保持商品的完整性,無法以接觸式方法量測。
    捲膜速度除了考驗生產機台本身以外,對光學式量測膜厚的穩定度也是一大考驗。

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏