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MCPD-9800

多通道分光光譜儀MCPD-9800

高速、高再現性、高動態範圍的三高完美演出
應對從紫外到紅外線領域的多功能多通道分光光譜檢測器。
最快只需5ms就可量測出分光光譜。
透過特殊設計纏繞的光纖,不須特定樣品即可應對做出各式各樣的量測。
高動態範圍(HDR)光譜儀可量測透明、低對比、高反射率樣品,最適用於量測光通量
曝光時間5msec~65sec(標準規格最長為20sec);適用於量測微弱光源以及架設於生產線上即時檢測等多元應用

量測項目

  • 光譜儀客製化方案
  • 螢光光譜
  • 穿透、吸收光譜
  • 反射光譜
  • 發光光譜
  • 光度
  • 色度 Chromaticity
  • 偏光度
產品特色
・高動態範圍(HDR)光譜儀可量測透明、低對比、高反射率樣品,最適用於量測光通量
・有效抑制雜散光,最適合UV光譜分析。相較於本公司歷代分光光度計,雜光率僅約五分之一
・曝光時間5msec~65sec(標準規格最長為20sec);適用於量測微弱光源以及架設於生產線上即時檢測等多元應用
・透過過特殊設計纏繞的光纖,展現穩定的重複再現性量測。
・小巧輕量化的設計,相較於歷代機型,容積比約減少60%
 

♦根據用途的各種檢測器陣容

以最高階機種MCPD-9800為首,有3種類12個波長範圍的檢測器。
可依照客戶的需求及量測用途,選擇最合適的檢測器。
MCPD1

 

♦通信介面可對應USB及LAN

具備通用的USB接口及搭載遠程遙控量測的LAN通信功能,使得便利性及測量用途的範圍增加。
 

♦高速・高感度測量光譜

針對時時變化的紫外線、可視光、近紅外領域的發光、透過及吸收光譜,利用512ch或1024ch的檢測單位及檢測器內部記憶體,可以最高速5微秒(使用MCPD-9800的情況下)為間隔進行高感度及高精度的測量。
MCPD2
 

♦利用光纖搭建自由好用的光學系

透過標配的光纖,不受樣品形狀及大小的約束,可自由搭建想要的光學系。
此外,可簡單與顯微鏡及大型平台等其他裝置組合,因此在任何領域都可發揮卓越的性能。
 

♦抗雜散射光功能

相較於本公司歷代機型,MCPD-9800的雜光只有1/5!
mcpd1

 

♦曝光時間高速化與高再現性

實現最短5msec的高速化量測及65se常曝光時間的高再現性量測。
MCPD2


 
可靠性

♦對應日本工業標準(JIS)!可提供高性能的分光測光器

MCPD符合日本工業標準JIS Z8724(颜色的量測方法-光源色)中對分光測光器的精度要求。
1.波長刻度的正確性
       波長的偏差低於0.5m以下
2.測光刻度的正確性
       強度比2:1的直線偏差低於0.5%以內
       此時的再現性於0.2%以內
       強度比10:1的直線偏差低於1%以內
       此時的再現性於0.5%以內
3.雜散光
       白熾燈作為光源時450nm的雜散光於1.0%以下
4.有效受光面
       不感帶的分散方向的寬度,於受光素子的間隔的1/5以下
5.準直儀
       焦點距離和繞射光柵的刻線密度和面積於3x 10^4以上

 

♦可追溯至國家標準,提供可靠的校正服務

在根據计量法制定的校正實驗室註冊制度(JCSS*1註冊制度)下,大塚電子的光計測實驗室被認證為屬於“光”註冊分類的國際MRA*2應對的JCSS校正實驗室。
為了能公正評估照明器具和光源的性能,不分國内海外都不斷推進光特性的測定方法等各種標準化,這些標準化所要求的測光,均以“光”的可追溯性為基礎。
大塚電子透過「光」的校正事業,提供測光的可追溯性, 不斷為普及及發展節能環保的照明貢獻一份心力。

*1 JCSS(Japan Calibration Service System):計量法校正事業者登録制度
*2 国際MRA(Mutual Recognition Agreement):國際相互承認
MCPD3

 
豐富的客製化項目
備有豐富的選配套件以及分析軟體。
藉由累積的技術與專業知識、提供比客戶需求更進一步的“最佳方案”。
MCPD4


 
  2285C 3095C 3683C 311C 916C
波長範圍 220 ~ 850 nm 300 ~ 950 nm 360 ~ 830 nm 360 ~ 1100 nm 900 ~ 1600 nm
分光元件 溝槽型全息成像光柵
感光元件 電子制冷型CCD影像感測器 電子制冷型
InGaAs影像感測器
感光值 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch
解析能力 1.4nm 0.7nm 1.4nm 0.7nm 1.0nm 0.5nm 1.6nm 0.8m 1.9nm
光纖規格 石英制光纖、固定口徑φ12mm、長約2m 摻鍺石英製光纖
長約2m
量測功能 發光光譜量測、反射率光譜量測、穿透率光譜量測、吸收光譜量測
尺寸重量 110(W)x 230(H)x 282(D)mm,約6kg
※發另備有1100 ~ 2500 nm波長段之光譜儀

提供最適用的方案滿足各種需求

  • 穿透・吸收量測系統

    ◎彩色濾光片穿透吸收量測
    ◎透鏡、薄膜等可穿透材料評價
    ◎光學零件、穿透吸收量測
  • 溶液特性量測系統

    ◎各種溶液吸收光譜量測
    ◎溶液成份濃度量測
    ◎溶出試驗
  • 微小化區域擴散反射系統

    ◎採用積分半球、提高粗糙表面量測重複性精度
    ◎可透過CCD鏡頭觀察量測點位狀態

    ◎量測各種零件微小區域反射率(Leader frame等)

  • 膜厚量測系統

    ◎薄膜、塗布膜、保護膜等膜厚
    ◎晶圓上膜厚、玻璃基板上膜厚、鋁基板上膜厚
     
  • 反射量測系統

    ◎光學材料、反射板表面特性
    ◎各種玻璃反射特性
    ◎抗反射膜層特性(抗反射膜、太陽能電池...等)
  • 表面色量測系統

    ◎塗料、塗布面色彩管理與退色性測試
    ◎紙、印刷物測色
    ◎布、粉體、塑膠製品...等色彩評價
  • 發光・ 螢光量測系統

    ◎各種發光、螢光量測(LED用、量子點...等)
     
  • 光通量量測系統

    ◎量測各種光源光通量
    ◎LED、OLED...等光源色量測
  • 配光量測系統

    ◎自動控制2次元測角器、量測各角度光譜分佈
    ◎依據不同角度之光譜分佈可評價光度與色度分佈
  • 顯微分光量測系統

    ◎顯微鏡下的微小面積量測(反射、穿透、吸收)
    ◎膜厚量測(薄膜、各種基板上膜層、保護膜)
     
  • 多點自動切換量測系統

    ◎蒸鍍膜、濺鍍膜反射率及穿透率量測(FPC...等)
    ◎半導體晶圓上膜厚、各種板材上膜厚量測
    ◎各種基板上膜層量測
  • 線上即時量測系統

    ◎機能性薄膜品質管理
    (HC、AR、ITO、燃料電池、蓄電池...等)
     
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