研討會活動

【先端材料精準解析:全方位粒徑分析先進技術與應用】
動態光散射、電氣泳動光散射、 顆粒計數、影像處理、液態SEM技術分析

大塚研討會視覺_第三版

【新竹場】2023/05/31(三) 13:00~16:30
【高雄場】2023/06/01(四) 08:30~12:00
超過半世紀粒徑分析開發經驗的大塚電子株式會社的日本量測技術負責人分享最新的應用與先進技術,以及有工研院背景的新銳公司邑流微測分享影像技術、液態SEM、線上解決方案等先端應用。另外,特別邀請兩位國內學界教授,於生物科技、材料領域中的經驗分享。本次研討會包含動態光散射、影像處理、SEM等多種粒徑分析技術,希望能為大家提供更多元的產學界的學術交流與產業應用。
活動免費參加,名額有限,請盡早報名。

點我報名->>>


線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

點我報名->>>




 
GP series

配光量測系統GP series

光度分佈角度量測、配光特性評價
◎最大可對應2400mm之LED照明配光量測
◎可對應大型面板之配光量測
◎自動控制2軸測角器,可量測各角度的光譜分佈
◎依據不同角度之光譜分佈可量測光強度與色度分佈
◎採用高動態範圍光譜儀分光,可檢測HDR光譜
◎可以測量紫外(UV)線和近紅外(NIR)範圍[option]

量測項目

  • 放射光通量(光譜)
  • 光度的角度分佈(配光)
  • 相關色溫與Duv
  • 主波長(Dominant)與刺激純度(Purity)
  • 色度座標(x・y)、色度座標(u・v)・(u’・v’)

產品資訊

特色
⦿最大可對應2400mm之LED照明配光量測
⦿可對應大型面板之配光量測
⦿自動控制2軸測角器,可量測各角度的光譜分佈
⦿依據不同角度之光譜分佈可量測光強度與色度分佈
⦿採用高動態範圍光譜儀分光,可檢測HDR光譜
⦿可以測量紫外(UV)線和近紅外(NIR)範圍[option]
⦿IES(LM-63-2002與JIS C 8505-5準拠)File Format <option> *1
  *1 IES LM-63-2002: Photometric data file of Illuminating Engineering Society
 
配光分布量測方法的種類((JIS C 8105-5) -座標系的定義-
            GP JIS C 8105 P2

 GP JIS C 8105 P1 T3

 

規格樣式

型式 GP-500(*1) GP-1100(*1) GP-2000
光學系統(*2) 2軸測角器
光學系統(*2) θφ座標系 αβ座標系/θφ座標系
光路長 500mm以下 500-1500mm 1500mm以上
應用範圍 LED CHIP/PACKAGING LED 一般照明設備・模組 一般照明設備
檢測器 光譜儀(高速多通道分光)
測量波長範圍(*3) 220-1600nm
※1可量測分光放射輝度的配光曲線
※2對應 IESNA LM-75
※3檢出器的波長範圍可供選擇

 GP series Fig T1 500 1100 W800 
 GP series Fig T1 2000 w800





 

量測範例

分光配光量測例
 3) GP 配光から全光解析図完C W1280

 

檔案下載

Application

產業應用

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏