LE-5400

LED 高速光譜分析儀LE-5400

架設於製程線上的LED光學特性高速量測
◎可配合LED生產線,或裝置中的點燈訊號同步高速測量
◎透過Windows API關數(.dll)與客戶端所使用的程式連結,
 提供數據解析及量測結果(客戶端須具備程式開發能力)
◎靈活運用各種光纖架構,提供合格判定,級別分類等不可或缺的品質管理
◎感光元件具備有電子冷卻功能,輕鬆應付長時間的連續量測
◎高速化的量測,不妥協的高再現性數據
◎VCSEL量測 800-1000nm

量測項目

  • 相關色溫與Duv
  • 指定之波長高度量測
  • 波峰(λmax)位置・高度・半高波寬
  • 三刺激值(kX・kY・kZ)
  • 色度座標(x・y)、色度座標(u・v)・(u’・v’)
產品特色

♦能與產線控制訊號同步
♦能配合各種量測系統需求
♦最短2ms~光譜測定(LE-5400)
♦有高速量測・演算能力
 
量測項目

三刺激値(kX, kY, kZ)*〔JIS Z 8724〕
色度座標(u, v)〔JIS Z8725〕
色度座標(x, y)〔JIS Z 8724〕
色度座標(u', v')〔JIS Z8781-5〕
主波長(Dominant)與刺激純度(Purity)〔JIS Z8781-3〕
相關色温度與Duv〔JIS Z 8725〕
演色性評價數(Ra, R1~R15)〔JIS Z 8726〕
Peak(λmax)波長、強度、半値幅 
2nd Peak 波長與強度 
積分値(Summation) 
重心波長 
指定波長強度 
以Peak波長為基準, 短波長側、長波長側的積分値 
* 明亮(kY)値、依待測LED與検出部的光学系有不同、
  定位後(固定距離、位置、方向)再現性高。
型式 LE series
型號 A B C D E
波長範圍 380-960nm 220-800nm 330-1100nm 350-930nm 800-1000nm
方式 Grating分光
分光器 F = 3, f = 135mm
Grating Blazed-holographic型
檢出器 電子冷却型CCD Image sensor
光纖 長度約2 m, 光纖頭直徑約12 mm / 與LED距離:通常2 mm~8 mm(因LED指向特性有所差異)
消費電力 最大100 VA
本體&重量 280(W)x 160(H)x 296(D)mm, 約10 kg
系統架構・量測時間軸

LE BLOCK FIG all W1280





 
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