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26Jan.2022
物性分析
【界達電位粒徑分析儀】量子點材料粒徑量測
量子點材料以控制粒子的奈米等級(2nm~10nm)控制放光波長，達到不同顏色效果。
一般在監控奈米粒徑大小以TEM及DLS為主。
TEM能直接看到粒子大小，但是量測前處理較為繁瑣，且機台本身價位較高。
DLS則是量測較為簡便，但因材料本身會有螢光放出，市面上的動態光散射粒徑機台會受到螢光的影響而無法量測。大塚電子機台內部構造，能以物理式去除螢光影響，直接量測量子點之粒徑分布。
且配合QE系列量子效率量測系統，能夠量測量子效率之絕對值。(PL系統為相對值)
為量子點材料提供完整的量測解決方案。
上圖為量子效率量測結果，下圖為量子點粒徑量測。
一般在監控奈米粒徑大小以TEM及DLS為主。
TEM能直接看到粒子大小，但是量測前處理較為繁瑣，且機台本身價位較高。
DLS則是量測較為簡便，但因材料本身會有螢光放出，市面上的動態光散射粒徑機台會受到螢光的影響而無法量測。大塚電子機台內部構造，能以物理式去除螢光影響，直接量測量子點之粒徑分布。
且配合QE系列量子效率量測系統，能夠量測量子效率之絕對值。(PL系統為相對值)
為量子點材料提供完整的量測解決方案。
上圖為量子效率量測結果，下圖為量子點粒徑量測。
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