26Jan.2022
物性分析

【界達電位粒徑分析儀】量子點材料粒徑量測

量子點是什麼?

量子點材料以控制粒子的奈米等級(2nm~10nm)控制放光波長,達到不同顏色效果。

量子點1
 

量子點粒徑的量測方法

一般在監控奈米粒徑大小以TEM及DLS為主。
TEM能直接看到粒子大小,但是量測前處理較為繁瑣,且機台本身價位較高。

DLS則是量測較為簡便,但因材料本身會有螢光放出,市面上的動態光散射粒徑機台會受到螢光的影響而無法量測。大塚電子機台內部構造,能以物理式去除螢光影響,直接量測量子點之粒徑分布
且配合QE系列量子效率量測系統,能夠量測量子效率之絕對值。(PL系統為相對值)
為量子點材料提供完整的量測解決方案。

量子點2
上圖為量子效率量測結果,下圖為量子點粒徑量測。

 

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏