依據歐盟施行的個人資料保護法，我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策，以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明。
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏。
26Jan.2022
物性分析
【界達電位粒徑分析儀】量子點材料粒徑量測
量子點是什麼?
量子點材料以控制粒子的奈米等級(2nm~10nm)控制放光波長，達到不同顏色效果。
量子點粒徑的量測方法
一般在監控奈米粒徑大小以TEM及DLS為主。TEM能直接看到粒子大小，但是量測前處理較為繁瑣，且機台本身價位較高。
DLS則是量測較為簡便，但因材料本身會有螢光放出，市面上的動態光散射粒徑機台會受到螢光的影響而無法量測。大塚電子機台內部構造，能以物理式去除螢光影響，直接量測量子點之粒徑分布。
且配合QE系列量子效率量測系統，能夠量測量子效率之絕對值。(PL系統為相對值)
為量子點材料提供完整的量測解決方案。
上圖為量子效率量測結果，下圖為量子點粒徑量測。
相關產品
其他相關訊息
-
01.Aug.2022粒徑分佈圖怎麼看？完整解讀定義與曲線，明白技術運用在哪裡！
-
01.Aug.2022粒徑分析基本觀念，現行6種粒徑量測原理及方法完整說明