線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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Solution

解決方案

  • 奈米材料・新機能材料

  • 精密陶瓷・色料工業

  • 高分子材料

  • 能源・環境工程

  • C
    高分子材料
    高分子材料作為台灣一個非常重要的領域,其產品影響著我們日常生活常見材料。
    材料的表面改質是一直以來的研究課題,藉由改變產品的分散凝集狀態可以控制各種性質。
    從高分子原始材料分散性、黏彈性、到成膜後的厚度、球晶大小、光學性質等物性檢測都是我們的量測範圍。
對象 用途 相關機種
乳膠 分散安定性 ELSZ
高分子 膜厚、nk值 OPTM
球晶徑、相關長 PP
固體表面電位 ELSZ
全膜線上膜厚監控 Linescan
透過率、反射率 MCPD
絕對分子量 SLS
黏著劑 分散安定性 ELSZ
膜厚、nk值 OPTM
球晶徑、相關長 PP
紙漿 分散安定性 ELSZ
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