PP-1000

高分子相結構分析系統PP-1000

◎主要使用可見光,比起小角X線散射(SAXS)或小角中性子散射(SANS)相比,可以量測較大的構造(μm等級)。
◎Hv散射可量測光學異方性及結晶,Vv散射可以量測高分子相分離、配向特性等解析。
◎散射角度0.2 ~ 45°最短10msec量測
◎次微米 ~ 數百微米大小構造量測
◎專用樣品容器、固態液態樣品皆可量測
◎Hv散射、Vv散射在軟體上簡易切換
◎將偏光顯微鏡所看不到的短時間變化數值化

量測項目

  • 粒子異方性
  • 相分離結構(相關長)
  • 球晶徑

量測原理

  • 光學系統

item_0015pp1000_sub001
  • Hv散射

偏光子與檢光子垂直量測。
散射體有光學異方性時,出現散射像,可量測高分子構造的大小、秩序性、配向等。
量測例:結晶性薄膜的球晶徑解析
item_0015pp1000_sub002

R = 4.09 / qmax
(R:球晶半徑、qmax:散射光強度最高時的scattering vector)
scattering vector q = 4π n / λ sin(θ / 2)
(λ:入射光的波長、n:樣品折射率、θ:散射角)
 
  • Vv散射

偏光子與檢光子平行量測。
   高分子共混物相分離過程。
   海島構造大小(相關長)。
   量測例:相分離過程相關長解析
item_0015pp1000_sub003

Debye-Bueche Plot
I(q) = A / (1+ξ2q2)²
(A:常數、ξ:相關長、q:scattering vector)
ξ = √(a / b)
(ξ:相關長 、a:斜率、b:截距)


 

規格樣式

  高分子相構造解析系統 PP1000
量測原理 小角光散射法(SALS)
光源 半導體雷射 (波長785nm)
檢出器 CMOS
測定散射角度 0.2 ~ 45°
取得像 Hv散射、Vv散射
測定點位大小 約1mm
樣品大小 最大100mm方形
動態範圍 120db以上 (HDR機能)
量測時間 10msec~
解析項目 球晶徑、相關長
量測範圍 球晶徑1.3~170μm
相關長0.1~100μm
溫控(選配) 加熱載台:室溫~600℃
加熱冷卻載台:-190℃~600℃

量測範例

  • Uv硬化樹脂的硬化過程

    item_0015pp1000_sub004
     
  • PVDF結晶化過程(230℃ → 160℃)

    PP-item01(1)
     
  • 甲基纖維素溶液相分離過程評價(常溫→60℃)


    PP-item02(1)
    【参考文献】
     Motoki Shibata, Tsuyoshi Koga, Koji Nishida, Polymer 178, 121574 (2019)

方法比較

  小角光散射(SALS) 小角X線散射(SAXS) 小角中性子散射(SANS)
光源 可視光 X光 中性子射線
量測範圍 1μm~100μm 1nm ~ 100nm
波長 數百nm 數Å
特徵 較便宜,使用容易
real time進行量測
可量測光學異方性
只能量測透明樣品
散射強度高
可安裝於實驗室量測
較難量測輕元素(H、Li等)
不透明樣品也可量測
散射強度較低
僅有大型設備
可量測輕元素
不透明樣品也可量測

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏