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【從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢】


2025量測技術研討會_banner

 
本研討會主題為從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢。聚焦於粒徑與形態分析技術的最新進展,涵蓋光散射、3D顯微、晶片電位與流體粒子影像分析等領域。透過業界專家的專題演講,探討從奈米尺度到微米尺度之量測應用,並解析未來技術發展趨勢,協助與會者掌握在材料、生醫與半導體等領域中的關鍵分析能力。
【時間】台南場 2025/06/17 PM13:30~
【時間】新竹場 2025/06/18 PM13:30~
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Solution

解決方案

  • 奈米材料・新機能材料

  • 精密陶瓷・色料工業

  • 高分子材料

  • 能源・環境工程

  • B
    精密陶瓷・色料工業
    不透光的粒徑樣品量測是大塚的特長。
    顏料等需要維持穩定的配方,維持長時間不團聚以及產品的特性(顯色、耐用度等等)。
    ELSZ系列搭配自動載台及業界最高輸出的半導體雷射,可以不進行稀釋直接量測,避免產品因稀釋後產生的誤差。
    在我們的銷售經驗中,多有使用他牌產品稀釋後進行量測,因而看不出差異進而無法分辨產品品質的情況產生。
    另外,獨家的固體表面電位量測也是觀察塗佈時一個重要參數。
對象 用途 相關機種
陶瓷材料 膜厚 OPTM
分散安定性 ELSZ
顏料、墨水、彩色光阻 膜厚 OPTM
分散安定性 ELSZ
塗布固體表面電位 ELSZ
technical article

化工材料應用技術文章

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