免費活動

【界達電位粒徑分析量測原理及最新應用】


WEBINAR
 
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標,
內容包括不透光高濃度樣品量測、固體表面電位量測、高鹽度樣品量測等等。
除了以上比較常見問題之外,我們將為您介紹更多有趣的應用。
免費線上活動,趕快一起參加吧!!
 
【時間】2024/10/24 14:00~15:30
點我報名->>>
LineScan

LineScan桌上膜厚檢測系統

採用Line Scan方式、全膜全幅寬檢查裝置。
◎獨自開發的光干涉法與高精度膜厚演算處理技術,最短量測時間間隔0.01秒
◎採用透過式Line Scan type全幅寬掃描的線上膜厚檢測系統
◎軟硬體獨自開發光學系統
◎高精度全幅掃描(獨家專利)
◎高速量測全膜面內分布(最短0.01sec)
◎1台使用時對應幅寬為25cm

量測項目

  • 膜厚

產品資訊

特色
◎可在桌上輕鬆檢查面內膜厚不均 (Off Line type)
 LineScan OffLine type role to role SQ 685x685  LineScan OffLine Fig



◎採用Line Scan方式,實現無"遺漏"的全面Film檢查
 以往的自動量測方式,於薄膜製程的膜厚是點的量測,無法做全面檢查。不符合標準的周圍部分全部切除廢棄,提升良率及生產效率是需要克服的課題。
 LineScan方式 点-線 T4 W800

◎膜厚量測專業製造商才能提供的完善厚量測系統
 LineScan方式的膜厚計,採用獨自開發的光干涉法的組合高速、高精度膜厚演算技術,實現最短0.01秒間隔,500mm幅寬(使用1台時)的全面膜厚量測。 
 寬幅度的薄膜也可裝置多台檢出器得到相同的結果。
 LineScan 測定から結果流れ T6 32 W800

◎LineScan方式的檢查方式,可達成全幅、全長的量測,精準判斷在膜厚基準外的部分。
 不易受到薄膜的分布及皺褶影響,期待貢獻在各個領域上薄膜品的品質管理上更加精進。
 LineScan ムラ

   

 
量測項目
薄膜的厚度 (全幅、全長量測)
 LineScan  測定結果画面 ヌキ W800
 
量測對象
光學薄膜、膠粘膜、包裝薄膜、導電薄膜
 Film アッセンブリー 製品 fig icon W800

 

 

規格樣式

 
樣式 In Line Off Line
膜厚範圍 0.7~300 μm 0.7~300 μm
量測幅寬 500 mm~最大 10 m 250 mm
量測間隔 10 ms~ 10 ms~
尺寸(W×D×H) 81×140×343 mm 459×609×927 mm
重量 4 kg(量測頭部分) 60 kg
電源 AC100 V±10% 125VA AC100 V±10% 125VA
 
Off Line樣式
LineScan OffLine Fig W600
 
In Line樣式
LineScan 1head name Fig h400  LineScan 3heads name Fig h400


 

量測範例

LineScan OffLine 測定から解析 W1280
 

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