線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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MD series

FPD平面顯示器光譜分析設備MD series

全自動檢測FPD模組的顯示特性及LCD背光模組的點燈測試
支援各種市售的信號產生器(Pattern generator)
對比率:輝度、色度啟動特性
反應時間:殘影現象
電力、電流消耗率:干擾(Crosstalk)、閃爍現象
白色色度、色度再現性:輝度、輝度不均
水平、垂直視野角特性:灰階 – 輝度特性※
※灰階可換算入電壓,但不包括JEITA ED-2522(日本電子及訊息技術工業協會規範)

量測項目

  • Gray scale - Luminance
  • Response time
  • Contrast ratio (Voltage, Viewing angle Rotation)
  • 輝度 Luminance, 輝度均一性 Luminance uniformity

產品資訊

產品特色
依據JEITA ED-2522(日本電子及訊息技術工業協會規範)項目進行檢測
全自動檢查FPD模組的顯示性能及LCD背光模組的亮燈性能
檢測器除使用本公司所提供之 高感度分光放射輝度計以外,亦可搭配其它品牌之輝度計
具備室溫下,與0~50℃恆溫槽內等兩種量測規格
支援各種市售的圖形產生器(Pattern generator)
可視量測樣品自由編輯參數,如檢查項目、檢查條件、判定條件等,在編輯完成後,將進行全自動檢查。
檢查結果可輸出成報告格式,自動存檔
 
量測項目
對比率:輝度、色度啟動特性
反應時間:殘影現象電力、電流消耗率:干擾(Crosstalk)、閃爍現象
白色色度、色度再現性:輝度、輝度不均
水平、垂直視野角特性:灰階 – 輝度特性※
※灰階可換算入電壓
 
量測範例
輝度、輝度不均量測
輝度不均
反應時間量測
RT

閃爍量測
Flicker

視野角特性量測
視野角特性



 

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