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【從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢】


2025量測技術研討會_banner

 
本研討會主題為從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢。聚焦於粒徑與形態分析技術的最新進展,涵蓋光散射、3D顯微、晶片電位與流體粒子影像分析等領域。透過業界專家的專題演講,探討從奈米尺度到微米尺度之量測應用,並解析未來技術發展趨勢,協助與會者掌握在材料、生醫與半導體等領域中的關鍵分析能力。
【時間】台南場 2025/06/17 PM13:30~
【時間】新竹場 2025/06/18 PM13:30~
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08Feb.2023
公司快訊

大塚科技新服務 【付費委託量測】全新上線

live jam photography
大塚科技推出了一項全新的付費委託量測服務,這項服務將提供客戶最佳的量測解決方案,以確保產品的品質和性能。

這項服務涵蓋了多種不同的量測技術,包括光學測量、膜厚量測、動態反應時間等等,以滿足客戶的各種不同需求。我們擁有專業的技術團隊,根據客戶的具體需求,提供最合適的量測方案,以確保量測結果的準確性和可靠性。

此外,我們提供了快速、高效、經濟實惠的量測服務,並且為客戶提供完整的售前、售中和售後技術支援,以確保客戶的滿意。

如果您有任何量測需求,請不要猶豫,立即聯繫我們,我們將竭誠為您服務!
 

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