線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

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11Oct.2016
公司快訊

台北總公司搬遷啟示

致   親愛的客戶:
感謝您們長久以來對大塚科技的愛護與支持,為因應公司整體需求與發展,自民國105年10月31日起,台北辦公室將遷移新址辦公。
由於跨區域,原服務電話及傳真均有改號, 敬請惠予更正敝公司檔案以利聯繫往來。
搬遷期間諸多不便,尚請見諒。
歡迎舊雨新知不吝愛護支持, 繼續給予惠顧與指導。  

◆新址:
10483台北市中山區松江路237號4樓  田明大樓(松江)
4F., No.237, Songjiang Rd., Zhongshan Dist., Taipei City 10483, Taiwan


公司電話:02-25153066
傳真電話:02-25153069  

敬祝   商祺
大塚科技股份有限公司 敬上  

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