顯示器
全面 ”進化・深化”
核心技術
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About Us
關於我們
日本光學檢測儀器大塚電子在台子公司
利用光學的技術，我們的使命是提供具有尖端技術的解決方案。產品包括光學膜厚量測、粒徑界達電位量測、高感度光譜儀等尖端技術。
繼承了大塚集團通過執行力和創造力證明的 DNA，我們專注於我們所做的事情以及我們作為大塚人可以實現的目標。 大塚科技通過其創新和創意的產品和服務，努力為世界各地人們更健康、更繁榮的生活做出貢獻。
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服務據點
售後服務
Solution
產品與應用產業
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顯示器 Display藉由分光量測技術代名詞的分光光譜儀與長年累積的專業解析技術提供全方位的光學檢測設備。Read More
在對應多樣化的顯示器量測需求的同時，我們也持續不斷向更廣泛的產業領域持續拓展。 -
LED
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LED Light Emitting Diode利用光學的技術，針對各種自發光體(包括LED)提供輝度, 照度, 光通量流明值, 配光等各項解決方案, 使用高感度光譜儀針對微小發光體也能有高精度, 高再現性的量測結果。Read More
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Event message
活動消息
Webinars and Events
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24Sep.2025
20251023 線上研討會 【界達電位粒徑分析量測原理及最新應用】
不論是粒徑還是界達電位都是幫助我們觀察樣品分散效果的重要指標，除了一般的量測以外，我們還將分享包括不透光樣品、高鹽度樣品、固體樣品等等大塚特有的量測強項。
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08Aug.2025
20250923線上研討會 【半導體量測技術應用分享：CMP製程中界面電荷行為分析與TGV孔洞3D形貌量測】
本場將深入探討奈米尺度觀察技術在先進半導體製程中的應用，首先解析CMP製程中晶圓與研磨液之間的界面電荷行為，說明其對製程穩定性與成品品質的影響；其次介紹TGV孔洞三維形貌量測技術，分享實際案例與最新觀測成果，協助業界掌握製程優化與檢測新趨勢。
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30Jul.2024
【輕巧便攜✨】零經驗也能用！手持式SMART膜厚計 ⭕高精度・非破壞・隨身攜帶⭕
高精度、非破壞、手持式膜厚計，可攜帶到現場的手持式輕量機型(約1.1Kg)，0.1μm單位的量測精度,0.01μm的重複精度，以非破壞式量測各類形狀的樣品，不限定基材材質，可量測coating膜層，不需要量測經驗，可快速得到精準的膜厚結果。
Technical Articles
技術文章
Popular Technical Articles
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13Mar.2023
界達電位量測原理介紹，固態樣品表面電位(surface zeta potential)量測方法與實踐
界達電電位代表的意義，包括正負號、絕對值、以及對分散性的影響。 該如何量測界達電位以及電氣滲透流產生的影響，最後再推廣到固體樣品的表面電位量測方法。
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