08Aug.2025
活動訊息

20250923線上研討會 【半導體量測技術應用分享:CMP製程中界面電荷行為分析與TGV孔洞3D形貌量測】

 
 

活動概要


本場將深入探討奈米尺度觀察技術在先進半導體製程中的應用,首先解析CMP製程中晶圓與研磨液之間的界面電荷行為,說明其對製程穩定性與成品品質的影響;其次介紹TGV孔洞三維形貌量測技術,分享實際案例與最新觀測成果,協助業界掌握製程優化與檢測新趨勢。

半導體量測技術應用分享:CMP製程中界面電荷行為分析與TGV孔洞3D形貌量測




 
活動名稱 半導體量測技術應用分享:CMP製程中界面電荷行為分析與TGV孔洞3D形貌量測
時間 2025/09/23(二) 15:00
地點 Microsfot teams線上軟體
參加費用 免費
講座內容
  • CMP製程中的晶圓與研磨液電荷交互作用
  • 光波動場3D顯微鏡:高速TGV孔洞形貌量測技術分享
本線上研討會使用“Microsoft Teams”於線上舉辦,申請參加者請於活動時間前5分鐘連線進入。
※在接續網路的狀態下,無論是由電腦、平板電腦、智慧型手機都可在安裝「Microsoft Teams」後參加。
※請事前確認網路、音訊裝置等,並事先下載安裝「Microsoft Teams」軟體。 
※如果您是使用電腦,可直接由瀏覽器開啟。 ※推薦瀏覽器: Microsoft Edge或是 Google Chrome
※於研討會結束後於規定時間內填寫線上問券,將於日後提供您該課程電子講義。

※活動參加連結會於活動前3~7天以及活動前30分鐘寄發,請留意您的信箱是否進入垃圾信件。
若於活動前20分鐘未收到連結請聯繫我們。

info@otsukael.com.tw
※本活動謝絕同業參加,並禁止於研討會期間錄音錄影,敬請見諒。

相關機台訊息

  • 界達電位粒徑分析儀ELSZneo

    【全新進化升級🔥】大塚電子散射光研究集大成 ⭕從稀溶液到濃溶液,奈米粒徑到固體表面電位精準量測⭕
  • 界達電位粒徑分析儀
    ELSZ-2000ZS

    最多客戶選擇,功能完備的界達電位粒徑分析儀機種
  • 光波動場3D顯微鏡
    MINUK

    【高速2秒測量⚡】奈米級非接觸3D量測 ⭕無需逐層對焦・自由觀察任意深度⭕

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能