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【從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢】


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本研討會主題為從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢。聚焦於粒徑與形態分析技術的最新進展,涵蓋光散射、3D顯微、晶片電位與流體粒子影像分析等領域。透過業界專家的專題演講,探討從奈米尺度到微米尺度之量測應用,並解析未來技術發展趨勢,協助與會者掌握在材料、生醫與半導體等領域中的關鍵分析能力。
【時間】台南場 2025/06/17 PM13:30~
【時間】新竹場 2025/06/18 PM13:30~
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02May.2025
活動訊息

研討會2025/06/17-18 【從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢】

活動簡介

 
本研討會主題為從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢。聚焦於粒徑與形態分析技術的最新進展,涵蓋光散射、3D顯微、晶片電位與流體粒子影像分析等領域。透過業界專家的專題演講,探討從奈米尺度到微米尺度之量測應用,並解析未來技術發展趨勢,協助與會者掌握在材料、生醫與半導體等領域中的關鍵分析能力。
 
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報名資訊

👉【台南場】 6/17(二) 13:30~台南 成功大學 太子會館

📍701台南市東區大學路2號

 

👉【新竹場】 6/18 (三) 13:30~ 新竹 工研院51館4樓 國際會議中心
📍新竹縣竹東鎮中興路四段195號
 

🎯主題 主題簡介 🤵主講者 主講者簡介
從粒徑測量到固液界面電位分析:
光散射技術的先端應用
介紹先進光散射技術,涵蓋奈米粒徑測量至固液界面電位分析,應用於材料、生醫與化學領域。 張順陞 副理  辛耘企業股份有限公司 
無須對焦的3D顯微鏡:
光波動場三維奈米形貌觀察新突破
介紹光波動場原理,進行無需對焦的三維形貌量測,適用於微奈米級樣品結構、缺陷、添加物等觀察。 賴彥成 副理 大塚科技股份有限公司 營業部
流體材料的把控關鍵:
微奈米粒子的AI影像觀測技術
介紹結合光學影像與 AI 分析技術,精準量測液態樣品中的粒徑,突破傳統方法在透明異物、團聚體與氣泡偵測上的限制。 顏嘉德 博士 邑流微測股份有限公司
前瞻技術部
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    【高速2秒測量⚡】奈米級非接觸3D量測 ⭕無需逐層對焦・自由觀察任意深度⭕

主辦單位:

大塚科技股份有限公司、辛耘企業股份有限公司、邑流微測股份有限公司

研討會相關諮詢:

Laura Chan 詹小姐 02-87512323 #1171
laura.chan@scientech.com.tw
本活動謝絕同業參加,並禁止於活動期間錄影錄音,造成不便敬請見諒。

 

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