低相位差高速檢查機 RE-100-大塚科技股份有限公司

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可測量從0nm開始的低相位差（殘留應力）。

檢測光學軸的同時，同步高速測量相位差 (Re.)。
(0.1秒以下的高速同時量測)

偏光檢測儀無任何驅動元件干擾，可提高再現性量測精度。

無需複雜參數設定，操作簡單易懂。

550nm以外，亦可支援其它波長量測。

Rth量測、全角度量測。(需搭配自動旋轉傾斜裝置)

搭配拉力測試機可同時量測薄膜偏光特性與光彈性。
(此系統為特殊規格)

液晶層間隙檢查機 RETS series 相位差量測檢查機 RETS-100

RE-100，係採用光結晶像素與CCD感光元件所構成的偏光檢測儀。搭配帶有穿透率特性的各種偏光元件，可以高速同時進行相位差與光學軸的量測。

CCD感光元件會自動擷取經過偏光後所呈現的畫面進行解析。相較以往，不需要再使用任何的驅動元件來尋找偏光後的受光強度。不但可提高再現性的精度、更具備長時間使用的安定性。

相位差（ρ[deg.],Re[nm]）

光學軸方位角（θ[deg.]）

橢圓率（ε）,方位角（γ）

三次元屈折率（NxNyNz）

■ 相位差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種機能性薄膜、
■ 樹脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(殘留應力)

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樣品尺寸	最小10×10mm ～最大100×100mm
量測波長	550nm （標準規格）^*1
相位差量測範圍	約0nm ～約10μm
相位差量測精度	0.05nm （3σ）^*2
光學軸量測精度	0.05°（3σ）^*2
解析元件	偏光檢測儀
量測口徑	2.2mm×2.2mm
通訊介面	100W 鹵素燈或LED光源
尺寸	300(W) × 560(H) ×430（D) mm
重量	約 20 kg

^*1 可選擇其他波長 ^*2 量測水晶波長板之精度(約55nm，2枚型)

■ 視野角改善膜 A
■ 視野角改善膜 B

■ 自動旋轉傾斜裝置

偏光檢測儀在生產線上的應用 (In-line Process)

■ USB傳輸，可適用於多種環境的架設。
■ 超高速量測，最適用於生產線中的即時監控。
■ 可搭配複數偏光檢測儀，同時進行多點位、多角度(Rth)量測。

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