線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

膜厚研討會
 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

點我報名->>>

 

【固體表面電位解密:板狀、薄膜狀樣品表面電位量測方法與範例介紹】

固體表面電位研討會 (1)

 
固體表面電位是大塚電子ELSZ特色的量測項目,主要使用電氣泳動法配合電滲流解析做量測。
其不僅可以解析固體本身的電位,也可以進一步置換液相容液觀察固體與液體相間的交互作用。
利用電荷的吸引或斥力,可以延伸出許多研究方向。
【場次1】2023/08/17 14:00~15:00

點我報名->>>


 
MCPD In Line series

Inline線上即時檢測(彩色濾光片製程)

可於線上即時檢測色度、膜厚、光學密度(OD)、反射率的光學量測系統
● 可架設於彩色濾光片製程中對所有基板進行全面檢測。
● 可根據基板量測位置、量測點位數量、依據不同的產線量測需求進行客製化系統規劃。
● 量測口徑為φ2mm至5 mm、採用可長時間量測的光學系可提供穩定的量測性能。
● 檢測器是採用在高速、高精度量測廣受業界肯定的大塚電子製光譜儀,在OD量測方面採用可對應高光學密度的光電子倍增管(PMT)

量測項目

  • 膜厚
  • 色度 Chromaticity
  • 光學濃度

產品資訊

測定項目

量測項目 ※選配功能
・色度量測(穿透率光譜分析) ・色度(XYZ、 xy、 Lab、 L*a*b*、 u’v’、 u*v*)
・色差、白平衡 ・反射率※ ・光學濃度(OD)※ ・畫素線寬(CD)※ 
・膜厚※     

量測架構

量測架構-單體Type
Inline系統架構-單體
量測架構-Traverse Type
Inline系統架構-Traverse Type

 

檔案下載

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏