免費活動

【關鍵突破:2024先進材料精準粒子分析研討會】


202405粒徑研討會1
 
本次研討會主題為「2024先進材料精準粒子分析研討會」,超過半世紀粒徑分析開發經驗的大塚電子株式會社的日本量測技術負責人分享最新的應用與量測上的knowhow,各種意想不到的界達電位、粒徑大小、表面電位等在各領域的關鍵突破。 此外,工研院背景的新銳公司邑流微測分享包括半導體及生醫製藥等熱門領域,聚焦在潔淨、智慧製造等關鍵字,引領ESG最新潮流。。
【新竹場】2024/05/21 13:00~
【台中場】2024/05/22 13:00~
【高雄場】2024/05/23 13:00~
點我報名->>>
MCPD In Line series

Inline線上即時檢測(彩色濾光片製程)

可於線上即時檢測色度、膜厚、光學密度(OD)、反射率的光學量測系統
● 可架設於彩色濾光片製程中對所有基板進行全面檢測。
● 可根據基板量測位置、量測點位數量、依據不同的產線量測需求進行客製化系統規劃。
● 量測口徑為φ2mm至5 mm、採用可長時間量測的光學系可提供穩定的量測性能。
● 檢測器是採用在高速、高精度量測廣受業界肯定的大塚電子製光譜儀,在OD量測方面採用可對應高光學密度的光電子倍增管(PMT)

量測項目

  • 膜厚
  • 色度 Chromaticity
  • 光學濃度

產品資訊

測定項目

量測項目 ※選配功能
・色度量測(穿透率光譜分析) ・色度(XYZ、 xy、 Lab、 L*a*b*、 u’v’、 u*v*)
・色差、白平衡 ・反射率※ ・光學濃度(OD)※ ・畫素線寬(CD)※ 
・膜厚※     

量測架構

量測架構-單體Type
Inline系統架構-單體
量測架構-Traverse Type
Inline系統架構-Traverse Type

 

檔案下載

您目前為透過後台登入模式

商品搜尋

偵測到您已關閉Cookie,為提供最佳體驗,建議您使用Cookie瀏覽本網站以便使用本站各項功能

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。 我們已更新並將定期更新我們的隱私權政策,以遵循該個人資料保護法。請您參照我們最新版的 隱私權聲明
本網站使用cookies以提供更好的瀏覽體驗。如需了解更多關於本網站如何使用cookies 請按 這裏