免費活動

【從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢】


2025量測技術研討會_banner

 
本研討會主題為從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢。聚焦於粒徑與形態分析技術的最新進展,涵蓋光散射、3D顯微、晶片電位與流體粒子影像分析等領域。透過業界專家的專題演講,探討從奈米尺度到微米尺度之量測應用,並解析未來技術發展趨勢,協助與會者掌握在材料、生醫與半導體等領域中的關鍵分析能力。
【時間】台南場 2025/06/17 PM13:30~
【時間】新竹場 2025/06/18 PM13:30~
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21Aug.2023
活動訊息

20230908半導體先進檢測與計量國際論壇

最新活動消息

伴隨2023SEMICON Taiwan 國際半導體展舉辦,大塚電子參加9/8於南港展覽館舉辦-半導體先進檢測與計量國際論壇,包含最新量測技術分享。
演講主題 Applications in Semiconductor Manufacturing Process
       *Semiconductor Advanced Inspection and Metrology Forum 
時間 2023年9月8日(五) 13:30~14:10
地點 南港展覽館㇐館5樓500會議室
參加費用 需購票
報名資訊 半導體先進檢測與計量國際論壇
講演內容 以新產品光波動場三次元顕微鏡 MINUK®為主軸,分享最新的膜厚量測及應用事例。

半導體先進檢測與計量國際論壇

2023-09-08 | 上午 8:30 - 下午 4:20

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