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06Dec.2022膜厚儀CMP是什麼意思？Slurry製程深入介紹，清楚瞭解技術與原理！
CMP是什麼意思？製程中可應用在哪些環節？
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讓你快速了解CMP製程的相關內容與應用！ -
19Oct.2022粒徑界達電位粒徑分佈圖怎麼看？完整解讀定義與曲線，明白技術運用在哪裡！
平均粒徑與粒徑分佈圖是什麼關係?
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常見的D10、D50、D90等等又分別代表什麼意義? -
01Aug.2022粒徑界達電位粒徑分析基本觀念，現行6種粒徑量測原理及方法完整說明
現行量測粒子的大小有幾種不同方法原理，以下簡單介紹幾種常見的方法原理比較。
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主要是依照粒子的大小尺度，來決定哪一種原理較為適用 -
13Mar.2023粒徑界達電位界達電位量測原理介紹，固態樣品表面電位(surface zeta potential)量測方法與實踐
界達電電位代表的意義，包括正負號、絕對值、以及對分散性的影響。
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該如何量測界達電位以及電氣滲透流產生的影響，最後再推廣到固體樣品的表面電位量測方法。 -
01Aug.2022膜厚儀【薄膜厚度量測】『顯微分光法』與『橢圓偏光法』有什麼不同?
現行光學膜厚量測儀主要有兩種方法，反射分光以及橢圓偏光法。
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有人說橢圓偏光比較準，真的是這樣嗎? -
29Jan.2026粒徑界達電位電泳光散射ELS是什麼？圖解量測原理與Zeta電位方法！
在膠體、懸浮液或奈米粒子系統的穩定性分析中，「電泳光散射（Electrophoretic Light Scattering，ELS）」是一項重要的量測技術。透過施加電場讓帶電粒子產生電泳運動，ELS結合都卜勒頻移分析，即可精準推算粒子的Zeta電位。
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Zeta電位為界面電性的重要指標，可用於判斷系統穩定性、表面修飾效果或分散行為，應用橫跨材料科學、半導體、製藥與環境工程等領域。本文將以圖解方式說明電泳光散射的量測原理，並介紹Zeta電位的常見量測方法與條件，協助你掌握界面科學分析的核心工具！ -
13Jan.2026粒徑界達電位DLS Troubleshooting是什麼？5大DLS方法開發必學技巧大公開！
當進行DLS方法開發時，常見如樣品濃度設定不當、溫控未穩定、多重散射干擾等問題，皆可能影響粒徑量測結果的準確性與再現性。故具備系統化的DLS Troubleshooting能力，已成為研發與品保流程中不可或缺的技術之一。接下來，本文將深入說明DLS Troubleshooting是什麼，並從方法開發的角度出發，協助技術人員優化量測參數、提升報告品質，進而建立可標準化的分析流程！
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05Jan.2026粒徑界達電位多分散指數PDI是什麼？5大必知實務解讀，掌握品管調整目標！
PDI是用來評估樣品中粒子大小分布是否均勻的重要指標，對於奈米粒子、膠體、乳液、藥物傳遞系統等領域來說，都是重要的參數。本文將說明PDI與Z-average平均粒徑的定義與限制，並結合粒徑分佈概念，協助正確解讀DLS量測結果。
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25Nov.2025粒徑界達電位晶圓鍵合中的電漿改質表面 Zeta 電位量測與製程控制
晶圓鍵合成功率與 SiO₂ 表面電荷、等離子活化條件高度相關。本文介紹如何以 ELSZneo 進行表面 Zeta 電位量測，助您掌握 OH 基密度變化、提升直接接合品質，強化先進封裝與 3D IC 製程穩定性。
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