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【從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢】


2025量測技術研討會_banner

 
本研討會主題為從奈米到微米:粒徑與形態分析的前沿技術與未來趨勢。聚焦於粒徑與形態分析技術的最新進展,涵蓋光散射、3D顯微、晶片電位與流體粒子影像分析等領域。透過業界專家的專題演講,探討從奈米尺度到微米尺度之量測應用,並解析未來技術發展趨勢,協助與會者掌握在材料、生醫與半導體等領域中的關鍵分析能力。
【時間】台南場 2025/06/17 PM13:30~
【時間】新竹場 2025/06/18 PM13:30~
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  • 1.什麼時候該做機台點檢?會做哪些項目?+

    雖然說大塚的機台以頭好壯壯強健穩定聞名,為了保證機台的數據高精度穩定性,建議您約一年做一次健康檢查,我們稱為『點檢』。
    點檢時會由我司專業專任的工程師到廠進行各項細部檢查,檢查項目隨機台不同而有不同的項目,在檢查完成後會提出正式報告(類似我們的健康檢查報告),確保您寶貴的機台隨時處在最佳狀態!

    以多通道分光光譜儀MCPD系列點檢項目為例:
    • 分光器波長精度檢查
    • Noise Level檢查
    • Dark Level檢查
    • 重複再現性檢查
    • Fiber斷線有無確認
    • 內部清掃、分光器下部的風扇確認、清掃
    • 根據Dark Signal進行補正調整
    • 能量補正(根據機種進行)

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